1 Introdução 1.1 UMA BREVE RETROSPECTIVA HISTÓRICA T radicionalmente, é reconhecido que a interpretação dos chamados “anéis de Newton”, por Boyle (1627-1691), e, independentemente, por Hooke (1635-1703), foi o ponto de partida para o estudo de interferometria óptica. Estes anéis coloridos correspondiam as figuras de interferência observadas visualmente num filme de ar bastante delgado estabelecido entre duas lâminas de vidro em contato entre si [1]. Hooke explicou o fenômeno interpretando a luz como um movimento vibratório rápido do meio de propagação, refletindo-se sucessivamente nas superfícies do vidro. Entretanto, surgiu uma questão inquietante entre os pensadores daquela época, relativamente a natureza da luz: seria ela constituída de corpúsculos, isto é, por um trem de partículas em movimento, ou, seria uma onda propagando-se em um meio de substrato, o então denominado éter ? Com a famosa experiência da passagem de luz branca por um prisma, Newton, em 1666, pode concluir que esta era composta por uma mistura de cores independentes, cada qual, correspondente a corpúsculos excitados no éter com características de vibração diferentes [2]. Assim, por exemplo, a sensação (no olho humano) de cor vermelha corresponderia a uma vibração mais longa do éter, e, a cor violeta, a uma vibração mais curta. Desta forma, através do fenômeno de dispersão cromática, Newton explicou o aparecimento das franjas coloridas naqueles anéis. A principal razão para Newton rejeitar o modelo ondulatório, foi a dificuldade em explicar a propagação retilínea da luz em termos de ondas, as quais espalhavam-se em todas as direções, semelhante as ondas mecânicas, as únicas investigadas até então. Contudo, em 1678, na Europa, Huygens encontrava-se bastante envolvido com a teoria ondulatória. Segundo Huygens, a cada ponto do éter por onde a distribuição luminosa passava, poderia ser associado um centro de um novo distúrbio, que se propagaria na forma de ondas esféricas. Estas ondas secundárias (wavelets) se combinariam de modo que sua envoltória determinasse a nova frente de onda em qualquer instante posterior [3]. Com esta teoria ele foi capaz de explicar matematicamente as leis de reflexão e refração, descritas por Snell e Descartes a partir de resultados experimentais, e analisar a dupla refração em cristais de calcita. Foi justamente trabalhando com este material que Huygens descobriu o fenômeno de polarização, interpretado por ele como dois tipos diferentes de emanações de ondas de luz. Entretanto, Huygens evitou qualquer interpretação em termos da natureza hipotética da luz. INTRODUÇÃO - 2 Por sua vez, Newton apresentou uma outra explicação segundo o modelo corpuscular para o fenômeno de polarização, atribuindo lateralidade (sides) aos raios, e, foi justamente esta tranversalidade que inviabilizou a aceitação da teoria ondulatória, uma vez que naquela época, conforme já foi lembrado, somente ondas longitudinais haviam sido estudadas. Independentemente das dúvidas a respeito da natureza da luz, um fato tornavase indiscutível até então, qual seja, sua velocidade de propagação deveria ser extremamente elevada. Em 1676, Römer, observando o intervalo de tempo entre eclipses solares sucessivos da lua mais próxima de Júpiter, elaborou um engenhoso método [3] para medir a velocidade da luz, obtendo uma estimativa aproximada de 214.000 Km/s. Devido a grande influência exercida pelas idéias de Newton na época, a teoria corpuscular prevaleceu por mais de um século. A teoria ondulatória só voltou a ser discutida no trabalho experimental de Young, em 1801 [3]. Este último introduziu um novo conceito, denominado princípio de interferência de ondas, segundo o qual, quando duas ondas coincidem em direção, resulta num efeito global, correspondente a uma combinação dos movimentos de cada onda. Com esta teoria, Young propôs uma explicação para as franjas coloridas dos filmes finos e determinou os comprimentos de onda associados as várias cores utilizando os dados de Newton. Contudo, tais idéias não foram aceitas com seriedade na época, pelos seguidores da teoria de corpuscular de Newton, em vista que essa teoria não contemplava o fenômeno de polarização. Passaram-se vários anos, até que Fresnel (1818) sintetizou os conceitos da descrição ondulatória de Huygens com o princípio de interferência de Young. Segundo Fresnel, o modo de propagação de uma onda primária poderia ser interpretada como uma sucessão de ondas secundárias esféricas, emanadas a partir de cada ponto da primeira, que se superpoem e interferem entre si para formar uma nova onda primária, constituída por suas envoltórias. Isto havia sido proposto por Huygens porém, agora, considerava-se o conceito de fase da onda óptica. Estas ondas, contudo, ainda eram consideradas longitudinais, em analogia com as ondas sonoras propagando-se no ar. Com sua teoria, Fresnel pôde determinar as figuras de difração oriundas de vários obstáculos e aberturas [3], tal qual observado por Grimaldi, a cerca de um século e meio atrás. Isto, para satisfação de Young, o qual teve sua credibilidade recuperada nos anos seguintes. Em 1808, Malus descobriu que a bi-lateralidade da luz, observada por Huygens nos cristais de calcita, também ocorria durante as reflexões [1]. Por vários anos, Arago (1786-1853), Young e Fresnel, realizaram uma série de experiências para determinar o efeito da polarização sobre a interferência, porém, com resultados insatisfatórios, devido ao modelo de onda longitudinal empregado. Finalmente, Young sugeriu que a vibração no éter poderia ser transversal, como a onda propagando-se em uma corda. A bi-lateralidade da luz seria então uma simples manifestação de duas vibrações ortogonais do éter, transversais à direção do raio de luz. Isto permitiu obter matematicamente as conhecidas fórmulas para as amplitudes das ondas refletida e transmitida, da luz incidente sobre uma superfície de separação de dois meios, solidificando a teoria ondulatória definitivamente. A primeira determinação em terra da velocidade da luz, foi realizada por Fizeau, em 1849. Através da conhecida experiência da roda dentada [3], ele mediu esta TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 3 velocidade como sendo 315.300 Km/s. Seu contemporâneo, Foucault, em 1850, mediu a velocidade da luz num meio denso, e descreveu que esta era menor que no ar, contrariando assim a formulação da teoria de emissão de Newton. Esta foi mais uma contribuição para resolver a ambiguidade imposta pela teoria corpuscular, a favor da teoria ondulatória. Paralelamente ao que ocorria na óptica, em 1845, Faraday estabeleceu um interelacionamento entre o eletromagnetismo e a luz, quando descobriu que a direção de polarização de um feixe poderia ser alterado por um campo magnético intenso aplicado ao meio [3]. Baseando-se no conhecimento empírico da época, Maxwell (1831-1879) elaborou um conjunto de equações matemáticas e mostrou, de forma completamente teórica, que o campo eletromagnético poderia se propagar como onda transversal no éter. Resolvendo tais equações para a velocidade da onda, obteve uma expressão em termos de propriedades eletromagnéticas do meio (c=1/, onde e são a permissividade e a permeabilidade do meio, cujos valores eram conhecidos empiricamente). Substituindo-se os valores dessas grandezas, obteve um resultado numérico correspondente àqueles medidos por Fizeau e Foucault. Deste modo, pôde concluir que a luz era um distúrbio eletromagnético na forma de ondas que se propagariam através do éter. Somente oito anos após a morte de Maxwell (1888), Hertz verificou experimentalmente a existência de ondas eletromagnéticas de elevado comprimento de onda, confirmando assim as previsões teóricas do primeiro [1]. Contudo, ainda persistiam questões sobre a natureza do éter. Se haviam ondas, parecia óbvio haver um meio de sustentação, o éter. Entretanto, este deveria possuir estranhas propriedades, tais como, ser tão tênue que não ofereceria qualquer resistência ao movimento dos corpos celestes, e, ao mesmo tempo, suportar as oscilações de frequências extremamente elevadas (1015 Hz) da luz, propagando-se a cerca de 300.000 Km/s. Isto implicaria em forças de restauração muito elevadas em seu interior. Além disso, a velocidade de avanço das ondas no meio dependeria das características do substrato de distúrbio, mas não de quaisquer movimentos da fonte. Isto contrariava o comportamento de um trem de partículas, cuja velocidade com relação a fonte é um parâmetro essencial. Finalmente, certos aspectos da natureza do éter falhavam quando do estudo da óptica de objetos em movimento. Baseado nas observações do astrônomo Bradley, em 1725, sobre o fenômeno de aberrações estelares [3], verificou-se que a teoria ondulatória só ofereceria explicação aceitável se fosse assumido que o éter permanecesse totalmente não perturbado quando a terra se movesse através dele (ou seja, deveria haver movimento relativo entre ambos). Já na teoria corpuscular, este fenômeno era prontamente explicável e sem quaisquer restrições. Assim, segundo cálculos de Fresnel, em 1818, indicava-se que num meio com índice de refração n, movendo-se com velocidade v, o éter deveria ser carregado (arrastado) com uma velocidade v(1-1/n2). O experimento interferométrico de Fizeau, em 1851, no qual dois feixes percorriam uma coluna de água em movimento em sentidos opostos, confirmou a hipótese de Fresnel, através da observação do deslocamento de franjas conforme o valor esperado [4]. Concluía-se, então, que nenhuma diferença observável resultaria entre a luz de fontes na terra ou fora dela, devido ao movimento da terra no éter. Assumindo que o éter estava em absoluto repouso, Lorentz (1853-1928), derivou uma teoria matemática que cofirmava totalmente as hipóteses de Fresnel [1]. INTRODUÇÃO - 4 A partir desses resultados, Maxwell previu, em 1880, que se houvesse movimento da terra através do éter, deveria resultar uma variação da velocidade da luz proporcional ao quadrado da razão entre a velocidade da terra e a velocidade da luz [4]. Porém, esta variação deveria ser muito pequena para ser detectada experimentalmente. Entretanto, em 1881, Michelson realizou sua famosa experiência utilizando-se da enorme exatidão da interferometria para medir este valor [3]. O resultado indicou que não havia qualquer movimento detectável da terra com relação ao éter, ou seja, o éter não era estacionário (arrastava-se com a terra). Assim, enquanto a observação das aberrações estelares, no contexto da teoria ondulatória, exigia a existência de movimento relativo entre a terra e o éter, o experimento de Michelson desconsiderava esta possibilidade. Em 1900, Poincaré tornou-se um dos primeiros a questionar seriamente a necessidade da existência do éter [1]. Sem dúvida, a experiência de Michelson conduziria à rejeição do conceito de éter, nos anos subsequentes, e fixou as bases para os fundamentos da teoria da relatividade especial. Em 1905, Einstein postulou que a luz sempre propaga-se no espaço vazio com velocidade definida, que é independente do estado de movimento da fonte emissora [1]. Detalhes adicionais a respeito da evolução histórica da óptica e da interferometria podem ser encontradas nas referências [1-4]. 1.2 ALGUMAS APLICAÇÕES DA INTERFEROMETRIA ÓPTICA Nos últimos 40 anos tem havido um crescente interesse em interferometria óptica, principalmente, devido ao desenvolvimento do laser como fonte de luz com elevado comprimento de coerência [5]. Até a primeira metade do século XX, a maioria das fontes de luz utilizadas em interferometria eram constituídas, por exemplo, por lâmpadas de vapor de mercúrio, acrescidas de filtros ópticos que isolavam a linha verde (0,546m) de seu espectro de emissão. Este tipo de fonte produzia luz com reduzida coerência espacial e temporal, além de possuir baixíssima intensidade. Com a invenção do laser por volta de 1960, removeu-se a maioria das limitações impostas pelas fontes térmicas ou por descarga, possibilitando uma mudança substancial nas técnicas de medida. Destaca-se brevemente, que constituem qualidades essenciais do laser o seu elevado grau de monocromaticidade, direcionalidade, brilho e coerência [5]. Citam-se a seguir, algumas aplicações potenciais de interferometria óptica, com ênfase nos sistemas utilizando laser. 1.2.1 METRO PADRÃO Em 1896, Michelson realizou a primeira medição rigorosa do comprimento de uma barra de Pt-Ir, a qual constituiu o protótipo internacional do metro padrão, em termos do comprimento de onda da radiação vermelha do cádio (0,606m). Em 1960, o comprimento de onda da radiação laranja do Kr-86 foi usado com referência natural para definir o metro padrão. Assim, um metro (1m) corresponderia a 1.650.763,73 vezes o comprimento de onda no vácuo da transição 2P 10 - 5D5 do criptônio 86. Uma descrição detalhada deste arranjo é apresentada na referência [4]. TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 5 1.2.2 ESTUDO DE FRENTES DE ONDAS Outro ramo de aplicação da interferometria surgiu com as pesquisas desenvolvidas por Twyman em 1916, que propôs a utilização de um interferômetro de Michelson modificado para testar componentes ópticos. Este interferômetro foi adaptado por Linnik, em 1933, para permitir o exame microscópico de superfícies refletoras [4], a fim de testar esses componentes ópticos. Tais sistemas são utilizados para medir variações de fase através de frentes de onda ópticas, e podem ser aplicados em estudos de fluxo de gás em turbinas, fenômenos de combustão, difusão, sistemas de plasmas, e outros [4]. 1.2.3 INTERFEROMETRIA HOLOGRÁFICA Em interferometria holográfica, uma das frentes de onda é armazenada em um holograma e posteriormente comparada com outra frente de onda. Isto permite, por exemplo, comparar frentes de onda que estão separadas no tempo ou no espaço. Desta forma, variações na forma de objetos, ainda que suas superfícies sejam ásperas, podem ser medidas com elevada exatidão. Como resultado, aplicações em teste não-destrutivo de materiais, em engenharia biomédica, na análise de tensões mecânicas, e outras, têm sido amplamente investigadas [4]. 1.2.4 INTERFEROMETRIA SPECKLE O fenômeno de “speckle” refere-se à aparência granulada da projeção da luz refletida por uma superfície difusa, iluminada por um feixe de laser. Isto ocorre devido a interferência entre feixes completamente coerentes, difratados a partir de elementos individuais dessa superfície. No início, o speckle foi tratado como um incômodo, contudo, posteriormente, observou-se que poderia ser usado como uma portadora de informações,e, aplicações para análise de deslocamentos e vibrações de superfície demonstraram ser bastante atraentes [4]. 1.2.5 TÉCNICAS HETERODINAS O desenvolvimento da eletrônica proporcionou uma verdadeira revolução na interferometria óptica, através da disponibilidade de fotodetectores a semicondutor capazes de operar em frequências de modulação elevadas, sistemas de demodulação de sinais analógicos e digitais, sistemas de aquisição de dados por computador, e outros. Acrescido ao desenvolvimento do laser como fonte altamente coerente, tornou-se possível imprimir informações ao batimento (beat) de dois comprimentos de ondas, correspondentes a frequências levemente diferentes, obtido por mistura (mixing) sobre um fotodetector de lei quadrática. Desde que, medidas de frequência ou fase de batimentos, podem ser realizadas com elevada precisão através de eletrônica convencional, foi possível atingir níveis de sensibilidade nunca antes alcançados [4]. INTRODUÇÃO - 6 1.2.6 INTERFERÔMETRO A FIBRA ÓPTICA A partir dos anos 70, o desenvolvimento da tecnologia de produção de fibras ópticas monomodo com elevada transmissão adquiriu notável avanço. Com o auxílio de dispositivos, como o acoplador direcional, tornou-se possível a implementação de interferômetros de dois feixes totalmente a fibra óptica. Tais sistemas possuem vantagens ímpares como, por exemplo, a capacidade de acomodar comprimentos de caminhos ópticos muito longos em pequenas dimensões físicas e com baixíssimo peso. São portáteis e podem ser montados segundo diferentes versões como o interferômetro de Mach-Zehnder, de Michelson, de Sagnac, de Fabry-Perot, interferômetro polarimétrico, intermodal, e outros. Finalmente, o desenvolvimento de dispositivos compatíveis com esta tecnologia permitiram a implementação de uma grande variedade de sensores, dentre os quais citam-se, os sensores de deslocamento, pressão, rotação, aceleração, temperatura, campo elétrico, campo magnético, e muitos outros [6]. 1.2.7 INTERFEROMETRIA EM ÓPTICA INTEGRADA Uma área que também passou a concentrar esforços de desenvolvimento tecnológico, a partir de 1970, foi a óptica integrada. Suas principais características são a miniaturização, a necessidade de poucos ajustes por parte do usuário final, e a elevada insensibilidade a perturbações ambientais externas. Um bloco essencial desses dispositivos é o interferômetro Mach-Zehnder integrado, o qual pode ser utilizado para modulação óptica de amplitude, polarização, frequência, etc, dependendo do arranjo específico gravado sobre uma superfície planar. Podem ser aplicados na confecção de diversos tipos de sensores, bem como vários dispositivos voltados para as áreas de telecomunicações e processamento de sinais [7]. Sem dúvida alguma, o breve resumo aqui apresentado, deixou de citar várias outras aplicações não menos importantes da interferometria óptica, como a interferometria estelar, a espectroscópica, etc. Desta forma é sugerido a leitura da bibliografia apresentada ao final do capítulo para mais informações. Ressalta-se também, que no texto a seguir, será dada ênfase ao estudo de técnicas de demodulação de sinais gerados em interferômetros de dois feixes recomendando-se novamente, a consulta da bibliografia indicada, para o estudo de outros tipos de interferômetros (dentre as dezenas disponíveis) empregados em óptica. 1.3 REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] BORN,M. & WOLF,E., Principles of Optics, Pergamon Press, 6 a ed., 1980 IIZUKA,K., Engineering Optics, Springer-Verlag, 6a ed., 1983. HETCH,E. & ZAJAC,A., Optics, Addison-Wesley Publishing Company, 1974. HARIHARAN,P., Optica Interferometry, Academic Press, 1985. SIEGMAN,A.E., An Introduction to Lasers and Masers, McGraw-Hill, 1971. UDD,E., Fiber Optic Sensors, John Wiley & Sons, 1991. DAKIN,J. & CULSHAW,B., Optical Fiber Sensors, Artech House, 1988. 2 Interferômetros de Dois Feixes 2.1 INTRODUÇÃO A interferometria óptica adquiriu, principalmente a partir dos anos 70, importância fundamental na área de sensores, instrumentação eletrônica e processamento de sinais [1]. Relativamente aos sensores, uma aplicação poderosa da interferometria óptica ocorre nos chamados sensores de fase, que são dispositivos óptico-eletrônicos extremamente sensíveis, nos quais a informação a respeito dos fenômenos físicos que se desejam caracterizar é introduzida diretamente na fase de uma portadora óptica , e não na sua amplitude, ao contrário do que ocorre nos sensores ópticos de intensidade. Para se ter uma idéia de tal sensibilidade, cita-se, que no caso de sensores de deslocamentos (por exemplo), amplitudes de deslocamentos relativos da ordem de um milésimo de comprimento de onda óptico () podem induzir desvios da fase da luz da ordem de um grau (1o), o qual, em princípio, podem ser detectados eletronicamente sem grandes dificuldades. Esses valores de desvios de fase também podem ser obtidos através da variação do índice de refração do meio que envolve o raio de luz, na ordem de uma parte em um milhão. Este fato pode ser explorado na implementação de sensores de temperatura, campo elétrico, campo magnético, etc. Além disso, como tais variações mínimas de deslocamento ou de índice de refração podem ser produzidas, por exemplo, pela mais leve pressão sobre um trecho de fibra óptica, admite-se também a possibilidade de implementação dos sensores de fase a fibra óptica, as quais são bastante difundidos atualmente. Esta sensibilidade elevada ocorre sobretudo, porque o comprimento de onda óptico é muito pequeno (da ordem de 0.5m) e a velocidade da luz é muito grande (da ordem de 3x108m/s). Isto favorece ainda, a implementação de dispositivos ópticoeletrônicos com dimensões físicas reduzidas, relativamente a possíveis versões nas faixas de freqüência de RF ou microondas, por exemplo. Através da interferometria as grandezas físicas que desejam-se medir são incorporadas na fase da luz e, a seguir, podem ser extraídas utilizando-se sistemas de demodulação de sinais adequados. Esses, por sua vez, executam a transferência da informação contida no “domínio óptico”, cuja freqüência é altíssima (da ordem de 1014 Hz), para o “domínio elétrico”, de preferência para um sinal de baixa freqüência, compatível com a instrumentação eletrônica disponível atualmente. Os interferômetros ópticos podem se apresentar em diferentes configurações como, por exemplo, os interferômetros de Mach-Zehnder, de Michelson, de Sagnac, de INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES - 8 Fizeau, de Fabry-Perot, etc., cada qual mais adequada a uma dada aplicação específica [2]. Neste trabalho será dado ênfase ao estudo dos interferômetros de dois feixes do tipo Mach-Zehnder e Michelson, devido as suas consagradas aplicabilidades nos mais variados tipos de sensores ópticos de fase. Inicialmente serão feitas considerações sobre franjas de interferência e determinada a expressão matemática da distribuição espacial da intensidade óptica resultante. Em seguida serão analisadas diversas técnicas de demodulação eletrônica do sinal de informação, abrangendo textos de diversos autores, desde a década de 60 até os dias de hoje. A análise se concentrará sobretudo nos interferômetros em óptica volumétrica, contudo, diversos exemplos com interferômetros à fibra óptica também serão apresentados. Será discutido o problema de degradação de sinais devido à perturbações ambientais de baixa freqüência agindo sobre o interferômetro, e apresentadas algumas soluções para eliminar seus efeitos na detecção eletrônica final. Finalmente, serão feitas rápidas considerações a respeito de ruído elétrico e do nível mínimo de sinal detectável. Além disso, apresenta-se no Apêndice I, um estudo relacionando as dimensões físicas de fotodetectores de alta freqüência, o grau de alinhamento necessário entre os raios de luz na saída do interferômetro, e a eficiência de conversão da intensidade óptica em corrente elétrica, a fim de obter desempenho ótimo. Antes de prosseguir, convém lembrar que em operações envolvendo laseres de potência elevada, ou, em aplicações em plasmas ou descargas de jatos supersônicos, por exemplo, a técnica interferométrica à óptica volumétrica ainda permanece insubstituível relativamente às suas versões em fibra óptica ou óptica integrada, devido às suas robustez e versatilidade. Além disso, ela destaca-se por seu caráter extremamente pedagógico e pelo reduzido investimento tecnológico. Ressalta-se ainda, que em configurações volumétricas, as ondas não são guiadas, podendo-se trabalhar com a formulação de ondas planas e uniforme, uma vez que a secção transversal dos feixes de laseres utilizados, normalmente, apresentam valores muito superiores ao comprimento de onda óptico. Também, não há necessidade de impor condições de contorno à propagação dos raios, a não ser nas interfaces onde a luz incide ou emerge dos dispositivos, daí a facilidade evidente nos cálculos. Em grande parte das aplicações de interesse, os resultados teóricos obtidos por este modelo em primeira ordem, apresentam concordância satisfatória com dados experimentais, além de proporcionar uma boa estimativa inicial para estruturas mais elaboradas, de ordem superior. 2.2 INTERFERÊNCIA ENTRE DOIS FEIXES ÓPTICOS O vetor campo elétrico (medido em volts/m) de uma radiação óptica varia no tempo a uma taxa muito rápida (da ordem de 10 14 ciclos/s), tornando o processo de detecção desta função de campo praticamente inviável, utilizando-se detectores convencionais. Ressalta-se que operam com constantes de tempo de diversas ordens de grandeza superiores as necessárias para detectar as oscilações nas freqüências ópticas. Por outro lado, a irradiância pode ser medida diretamente usando-se uma variedade de fotodetectores [3]. A irradiância, , em W/m2, corresponde ao valor médio do vetor de Poynting eletromagnético s(r,t), ou seja: TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA -9 (r, t ) s(r, t ) onde 1 T t T e(r, t ' ) h(r, t ' ) dt ' (2.1) t e(r,t) = vetor campo elétrico, h(r,t) = vetor campo magnético, T = período da onda óptica, r = vetor posição. Aplicando-se (2.1) para uma onda TEM propagando-se num meio ilimitado, linear e isotrópico, de impedância intrínseca Zo (em ohms), obtém-se [4]: (r, t ) 1 1 2 E E.E 2Z 0 2Z 0 (2.2) onde e(r,t) = Re {E ejt} corresponde a uma onda plana monocromática na freqüência angular . Contudo, na prática, normalmente trabalha-se somente com os valores de irradiâncias relativas (ou normalizadas), e não com seus valores absolutos, e assim, costuma-se desconsiderar o fator (1/2Zo ) na equação (2.2), e utilizar apenas o termo proporcional a , denominado intensidade óptica, I(r,t): I(r, t ) E.E 2 (2.3) A fim de detectar uma determinada intensidade óptica, podem ser utilizados fotodetectores como, por exemplo, fotodiodos semicondutores. Estes dispositivos óptico-eletrônicos são capazes de detectar a potência luminosa incidindo sobre eles, convertendo-a em um sinal de corrente elétrica, i(t), linearmente correspondente. O fator de proporcionalidade depende de características do fotodetector como, por exemplo, a eficiência quântica, o ganho, a área efetiva, etc [5]. Finalmente, procura-se fazer com que esta corrente gerada opticamente circule através de um resistor de carga adequado, de forma a poder operar com tensões elétricas detectadas, v(t), mais convenientes para serem processadas por circuitos eletrônicos. Entretanto, como se observa na equação (2.3), nenhuma informação sobre a fase do sinal óptico aparece na expressão final da intensidade. Justamente para esta finalidade, é que os interferômetros devem ser empregados, ou seja, converter as informações presentes na fase óptica, em variações de intensidade óptica, as quais podem ser diretamente medidas. 2.3 INTERFERÔMETRO DE YOUNG Uma representação esquemática do interferômetro de Young é ilustrada na figura 2.1, onde S1 e S2 são duas fontes pontuais de luz coerente sobre um plano normal ao plano da página). Um ponto de observação P está sobre um plano INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES - 10 (paralelo a a uma distância finita D, de . Representam-se as fontes S1 e S2 pelos campos e1 (r,t) e e2 (r,t), nas freqüências e , respectivamente, onde: e1 (r1 , t ) Re{E 01. exp[ j(1 t k 1 .r1 1 )]} (2.4) e 2 (r2 , t ) Re{E 02 . exp[ j( 2 t k 2 .r2 2 )]} Figura 2.1 - Representação esquemática do interferômetro de Young. Nas expressões acima, E 01 e E 02 fornecem as amplitudes e as polarizações dos campos elétricos, k1 e k2 são os vetores de onda e e são fases iniciais dos sinais das fontes S1 e S2 , respectivamente. Usando a notação fasorial, definem-se: E1 E 01 exp[ j(1 t k 1 .r1 1 )] (2.5) E 2 E 02 exp[ j( 2 t k 2 .r2 2 )] O campo total no ponto P é obtido pela superposição de E1 e E2 , e será denotado por ET: (2.6) E T E1 E 2 Utilizando-se (2.6), investiga-se o valor do produto escalar a seguir: E T .E T E 01.E 01 E 02 .E 02 E 01.E 02 exp{ j[( 1 2 ) t k 1 .r1 k 2 .r2 1 2 ]} E 01.E 02 exp{ j[( 1 2 ) t k 1 .r1 k 2 .r2 1 2 ]} (2.7) TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA -11 A intensidade total, I , é calculada lembrando-se que a largura de faixa de um fotodetector prático não é suficientemente larga para detectar freqüências ópticas, porém, se esta largura de faixa for grande o bastante, tal que possa detectar a freqüência diferença (1-2), a aplicação das equações (2.3) e (2.7) conduz a: I(r, t ) 1 E 01 2 E 02 2 2 2E 01.E 02 cos[( 1 2 ) t 1 2 ] = k1.r1 - k2.r2 onde (2.8) (2.9) As duas primeiras parcelas do lado direito da equação (2.8) referem-se a soma das intensidades individuais produzidas pelas fontes, correspondendo a uma intensidade uniforme, denominada intensidade de polarização (bias). A terceira parcela é uma distribuição espacial senoidal denominada figura de franjas (fringe patterns), e que conterá a informação de sinal desejada. Denomina-se visibilidade, V, uma grandeza cujos valores estão entre 0 e 1, definida por [6]: V I MAX I MIN 2E 01.E 02 2 I MAX I MIN E 01 E 02 2 (2.10) onde IMAX e IMIN são as intensidades máxima e mínima, respectivamente, deduzidas a partir de (2.8). Analisando-se a equação (2.8), observa-se que, se os feixes forem polarizados ortogonalmente entre si, o termo de interferência cruzada desaparece, e restará apenas uma intensidade constante, igual a soma das intensidades de cada feixe individual. Neste caso, a visibilidade é nula, conforme indica a equação (2.10), e a expressão da intensidade óptica não conterá qualquer informação a respeito do sinal. Quando os feixes são polarizados paralelamente entre si, o termo de interferência cruzada é máximo, e , para os estados de polarização relativa intermediários, tal termo é atenuado pelo fator correspondente ao coseno do ângulo entre as direções de polarização dos feixes, reduzindo-se assim, a parcela da intensidade óptica que contém informação de sinal. Neste trabalho, será considerado que os feixes apresentam polarizações paralelas entre si, a menos que se diga o contrário. Um caso particular, embora muito importante, ocorre quando 2 2 E01 E02 I0 / 2 , onde Io é a intensidade óptica da fonte, e assim, (2.8) torna-se: I(r, t ) 1 1 cos[( 1 2 ) t 1 2 ] I0 2 (2.11) uma situação onde a visibilidade é máxima (V=1). Deve ser ressaltado que, originalmente, o interferômetro de Young opera a partir de uma fonte que gera onda plana , a qual posteriormente passa através de duas INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES - 12 fendas paralelas e próximas, produzindo-se ondas TEM cilíndricas em S1 e S2 , na figura 2.1, conforme é descrito na referência [7]. Neste caso, a condição de paralelismo entre k1 e r1 , e entre k2 e r2 , no plano é sempre satisfeita. Entretanto, no caso deste trabalho, é suposto operar-se com fontes laser a partir de S1 e S2 , isto é, ondas com características eminentemente TEM planas, e assim, nem sempre a condição de paralelismo acima é satisfeita. Contudo, se o espaçamento "d" entre as fontes S1 e S2 na figura 2.1, for muito pequena relativamente à distância D, e, se as observações sobre o plano forem realizadas em uma pequena região em volta do ponto Q, torna-se razoável usar uma aproximação de paralelismo em primeira ordem. Assim, de (2.9): = k1.r1 k 2 .r2 k1r1 k 2 r2 (2.12) Além disso, analisando-se geometricamente a figura 2.1 mostra-se que: r2 y 1 y 1 ( )2 1 ( ) 2 D D 2 D (2.13) onde foi utilizada uma expansão binomial, sob a condição y<<D . Assim finalmente, r2 D y2 2D (2.14) Uma expressão similar, pode ser obtida para r1 : r1 D ( y d) 2 2D (2.15) Desta forma, a equação (2.12) conduz a: (k 1 k 2 )( D k d (d 2 y) y2 ) 1 2D 2D (2.16) Admitindo-se que (1-2) << 1, então, pode-se fazer uma aproximação em primeira ordem, qual seja: ( k1 k 2 ) k 2 k1 k 2 / . Com isso, a primeira parcela do lado direito da equação (2.16) pode ser desconsiderada relativamente a segunda. Portanto, obtém-se kd 2 kd y 2D D Desta forma, a equação (2.11) torna-se: (2.17) TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA -13 I( y, t ) 1 kd kd 2 1 cos[( 1 2 ) t y( 2 1 )] I0 2 D 2D (2.18) ou seja, uma onda progressiva na direção y sobre o plano . Observa-se, portanto, que a figura de franjas possui freqüência espacial, F, dada pela derivada espacial da fase da onda em (2.18): F 1 kd kd 2 1 kd ( y 1 2 ) 2 y D 2D 2 D (2.19) F d ciclos/m D (2.20) ou ainda, Considerando-se, momentaneamente, o caso particular ()=0 na equação (2.18), obtém-se uma onda estacionária na coordenada espacial y: I( y) I0 kd [1 cos( y )] 2 D (2.21) onde é um termo de fase constante, dado por = (kd2 /2D)+ sta distribuição de intensidade óptica pode ser observada sobre uma tela em P da figura 2.1, como uma região de claros (máximos) e escuros (nulos) dando origem as franjas de interferência. A figura 2.2-a) ilustra este fato para o caso ()=0 em As franjas brilhantes são locais onde as amplitudes das ondas superpostas somam-se em fase, isto é, construtivamente. Nesta situação a diferença de fase entre os dois raios que chegam em P é um múltiplo inteiro, m, de 2m). Nas regiões escuras, a diferença de fase é (m+1/2)2 e a interferência é destrutiva. Neste arranjo, as figuras de franjas assumem a forma de linhas retas paralelas e eqüidistantes sobre o plano conforme mostrado na figura 2.2-b). Uma discussão interessante apresentada na referência [7], indica que a grandeza V, isto é, a visibilidade de franjas dada em (2.10), relaciona-se também, com a qualidade do contraste (ou definição visual) entre as franjas claras e escuras. A partir de (2.21) determina-se que os pontos de máximos, para ()=0 , ocorrem quando: 2m 2y d (2.22) F onde o índice m é denominado ordem das franjas. O máximo principal, ou franja de ordem zero, ocorre em m = 0, isto é, y = d/2, conforme mostrado na figura 2.2. INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES - 14 y D ANTEPARO I(y) S2 d d/2 x S1 (a) m = +2 m= +1 m=0 m = -1 m = -2 (b) Figura 2.2 - Franjas de Interferência. a) Distribuição de intensidade sobre o anteparo. b) Figura de franjas projetada num anteparo. A separação entre franjas consecutivas, ou, período espacial , é dada por: 1 D F d (2.23) de onde se observa que a quantidade de franjas por unidade de comprimento diminui com o aumento de D, ou, com a diminuição de d. Os casos em que (ou (são não nulos serão analisados em mais detalhes nas seções seguintes. Exercício 2.1: Supondo que em vez de ondas planas e uniformes, conforme descritas pela equação (4), tivéssemos ondas esféricas linearmente polarizadas, mostre que a figura de interferência (campo distante) gerada pelo interferômetro de Young seria constituída por franjas em forma de hipérboles, diferentemente da figura 2.2. Sugestão: Consultar a referência [7]. TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 15 2.4 INTERFERÔMETRO DE MACH-ZEHNDER O diagrama de um interferômetro do tipo Mach-Zehnder está ilustrado na figura 2.3. Neste sistema a luz (polarizada) é feita incidir sobre um semi-espelho BS1, sendo parte transmitida e parte refletida sob taxas bem definidas. Essas duas ondas, uma em cada ramo, propagam-se segundo caminhos ópticos separados, até se recombinarem num segundo divisor de feixes BS2, após sofrerem reflexões nos espelhos M1 e M2. Deve ser observado, pela figura 2.3-b), que ao saírem do segundo divisor de feixes, os dois raios de luz emergentes constituem um interferômetro de Young, tal qual aquele da figura 2.1. Os pontos F1 e F2 da figura 2.3-b), correspondem as fontes S1 e S2 anteriores. Figura 2.3 - Interferômetro Mach Zehnder. a) Esquema geral, b) Divisor de feixes. A interposição de um objeto em um dos ramos do interferômetro MachZehnder alterará a diferença de caminho óptico entre eles (por exemplo, devido a variação de índices de refração), e daí, a figura de franjas de interferência, conforme será visto agora. Nas situações em que (é diferente de zero, as quais implica em que o interferômetro tenha ramos com caminhos ópticos diferentes, ou, que exista um desequilíbrio de fases devido a algum agente externo atuando sobre estes ramos, as fontes F1 e F2 não estão mais em fase. Contudo, admite-se que tal diferença de fase não ocorra de forma aleatória, como poderia acontecer se as fontes não fossem coerentes. Neste trabalho, considera-se que as dimensões físicas relevantes sejam inferiores ao comprimento de coerência das fontes de alimentação laser. Denominando-se esta diferença de fase por e ainda na situação (0, a equação (2.18) torna-se: INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES- 16 I( y, t ) 1 kd kd 2 1 cos[ y ( t )] I0 2 D 2D (2.24) indicando que o perfil de intensidade óptica, I , permanece tal qual na figura 2.2, sendo contudo, transladado em relação a origem do eixo y, por um valor . Se a diferença de fase for variável no tempo, isto é, se =(t), o perfil de I(y,t) corresponderá a franjas que se deslocam de forma contínua, paralelamente ao eixo y. Observa-se ainda, analisando-se as figuras 2.1 e 2.3, que para um alinhamento correto dos raios que partem de F1 e F2 , ao longo de toda sua extensão (do divisor de feixes até o anteparo), deve ser imposto que a distância d deve ser cada vez mais reduzida (para uma dada distância D fixa). Isto torna a separação entre as franjas, , progressivamente maior, conforme a equação (2.23). Para um alinhamento perfeito ( ) , obtém-se uma região de claro ocupando toda a tela no plano , correspondente à franja de ordem zero. Alinhar um interferômetro significa obter um grau de paralelismo elevado entre os feixes ópticos que são superpostos no fotodetector. A necessidade de um paralelismo rigoroso pode ser compreendida com o auxílio do processo de formação de franjas descrito anteriormente. As modernas técnicas de interferometria utilizam fotodetectores para analisar o sinal óptico de saída. Estes fotodetectores normalmente apresentam uma área ativa bastante reduzida ( a fim de aumentar sua velocidade de resposta), sensível a variações de intensidade óptica do feixe incidente sobre ela. Esta área deve ser iluminada por apenas uma franja, de preferência a de ordem zero, caso contrário não detectará variações de fase alguma, mas tão somente um valor de intensidade média constante e que não contém nenhuma informação relevante sobre o sinal, conforme discutido no Apêndice I. Por outro lado, como a separação entre franjas depende do paralelismo dos raios, para isolar uma única franja, suficiente para iluminar completamente a janela do fotodetector, o alinhamento final deve ser realizado com bastante precisão. Em termos de ordem de grandeza, afirma-se que para obter uma separação de 1,5mm entre franjas, deve ser imposto um ângulo, entre os raios que incidem no fotodetector, menor que 10-4 rad (ver Apêndice I). No caso em que (é diferente de zero na equação (2.18), ainda ocorre o processo de formação de franjas sobre o plano , no entanto, tal distribuição de intensidade não é mais uma onda estacionária como a figura na 2.2, mas sim uma onda progressiva na direção y, conforme já for observado anteriormente. Desta forma, as figuras de franjas somente poderão ser observadas visualmente se a diferença ( for muito pequena, fazendo com que as franjas se desloquem com baixa velocidade sobre o anteparo. Como neste trabalho, opera-se com freqüências de batimento da ordem de MHz, a observação visual das franjas torna-se impraticável. Entretanto, se forem usados fotodetectores com largura de faixa suficientemente elevada (como os fotodiodos PIN) , pode-se realizar o processo de detecção de franjas ópticoeletronicamente. Uma forma de obter freqüências ópticas diferentes entre os ramos do interferômetro será discutido nas seções seguintes. TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 17 Exercício 2.2: No texto, foi feita a afirmação de que se o laser de entrada for linearmente polarizado as franjas do interferômetro Mach-Zehnder são constituídas por linhas claras e escuras paralelas entre si. Explique detalhadamente o que aconteceria com o formato das franjas se o laser não fosse polarizado (tal qual ocorre em interferômetros com fontes de luz branca, por exemplo). 2.5 INTERFERÔMETROS HOMODINO E HETERODINO A literatura mostra que existe uma infinidade de aplicações práticas da interferometria em medições de grandezas físicas, caracterização de materiais e dispositivos, e processamento de sinais. No caso dos sensores interferométricos basta posicionar, em um de seus ramos, o dispositivo óptico sensível à variável de iteresse e que provoque variações de caminho óptico. A grandeza a ser medida causa então uma variação na diferença de fase entre os ramos, da equação (2.24), cujo valor pode ser dado por [4] : 1 2 2 com nl (2.25) n = índice de refração do meio no qual o feixe de sinal se propaga, l = diferença de comprimento entre os ramos, = comprimento de onda da luz. Deste modo, uma variação em qualquer um dos três parâmetros nesta equação (n, l ou ) causará um deslocamento de fase , em relação ao valor dado em (2.25), cujo valor será: 2 [nl l n n l ] (2.26) Assim, por exemplo, um sensor de deslocamento provoca modulação de fase, ,devido a variações em l. Já um sensor de temperatura deve modular a fase devido a variações em n, e assim por diante [1]. A variação de fase induzida pela grandeza física em estudo deve ser detectada através da observação do deslocamento físico do interferograma sobre o anteparo. Esta medida pode ser realizada através da visualização direta do movimento das franjas pelo olho humano (nem sempre isto é possível), ou, através de fotodetectores, os quais permitem ainda explorar a região invisível do infravermelho. Considerando-se um fotodetector de lei quadrática posicionado num dado ponto fixo y = yo , sobre o anteparo da figura 2.2, a expressão (2.18), diante da aplicação de uma variação de fase , conduz à: I( t ) 1 1 cos[ .t ( t ) 0 ( y y 0 )] I0 2 (2.27) INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES- 18 onde = 1-2 , e , (t) é a modulação na diferença de fase entre os ramos do interferômetro. Ainda, kd kd 2 (2.28) 0 (y y 0 ) ( y 0 ) D 2D com dado por (2.25). A equação (2.27) indica que o fotodetector, fixo em y = yo , será sensível aos movimentos do perfil de intensidade óptica da figura 2.2, sobre o anteparo, e, é uma função apenas da variável t (não mais de y). Na expressão (2.27), foi utilizado um fator , um número entre 0 e 1, denominado eficiência de mistura do interferômetro (mixing efficiency). Este fator, só pode ser determinado experimentalmente, e contém informações sobre vários efeitos adicionais que ocorrem na prática, e que não foram levados em consideração no desenvolvimento teórico idealizado da expressão (2.18) como, por exemplo, perdas de coerência e de polarização dos raios de luz, descasamento das frentes de onda dos feixes que interferem entre si, e outros [8]. Como já foi dito anteriormente, a corrente gerada no fotodetector, i(t), tem forma similar a equação (2.27), porém multiplicada por um fator constante, G, que leva em consideração as características do fotodetector (ver Apêndice I). Finalmente, esta corrente é transformada em tensão elétrica, v(t), utilizando-se um resistor de carga. Contudo, neste trabalho, serão utilizados I, i(t) ou v(t) indistintamente, a menos que se diga o contrário. Em termos gerais, a expressão final para o sinal de saída do fotodetector, pode ser dada por: I(t ) A B cos[ .t (t ) 0 ] (2.29) onde A é o termo correspondente à intensidade DC, e, o termo B, depende do produto das intensidades individuais em cada ramo do interferômetro, do fator de eficiência e do fator G do fotodetector. Esta expressão permanece válida mesmo quando as intensidade dos ramos individuais não são mais iguais. Utilizando-se a notação da equação (2.29), a visibilidade das franjas do interferômetro não ideal, a partir da equação (2.10), é dada simplesmente por V = B/A = . Assim, uma outra forma de escrever (2.29) é [9]: I(t ) A{1 V cos[ .t (t ) 0 ]} (2.30) confirmando-se que a visibilidade é uma medida do grau de qualidade das franjas: quanto maior o valor de V, maior será a parcela correspondente ao sinal de interesse. O fator (t) nas equações (2.29) ou (2.30), representa toda e qualquer modulação de fase relativa entre os ramos do interferômetro. O termo é uma fase relativa constante que leva em consideração a diferença de fase fixa, devido a diferença de caminho óptico entre esses ramos, dada pela equação (2.28). Em algumas situações, TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 19 torna-se interessante estabelecer a fase em torno de algum valor específico (como na condição de quadratura, a ser vista adiante), a fim de melhorar o processo de detecção do sinal. Isto pode ser realizado ajustando-se n, l ou da equação (2.25), conforme seja mais conveniente [10]. O problema da interferometria óptica então, resume-se em extrair (t) da equação (2.30). Em termos gerais, existem duas técnicas tradicionalmente adotadas para detecção da modulação de fase (t), as quais são denominadas de técnicas homodina e heterodina de demodulação de sinais ópticos. Na técnica homodina, não existe diferença de freqüências (1 = 2) entre os ramos do interferômetro, e, a intensidade óptica (normalizada) é dada simplesmente por: 1 1 (2.31) I(t ) 1 V cos[ ( t ) 0 ] 1 V cos[( t )] 2 2 onde (t ) (t ) 0 . Na figura 2.4, representa-se o gráfico da intensidade óptica em função da fase total, onde nota-se que o pico da característica estática de I(t) está centrado em (t) =0, quando a diferença de fase global entre os feixes é nula, ocorrendo interferência construtiva. Figura 2.4 - Diagrama de intensidade óptica e condição de quadratura de fase. Na presença de uma pequena diferença de fase relativa (t), oscilando num tom de freqüência m, amplitude m e fase inicial , ou seja: INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES- 20 (t ) m sen(m t ) (2.32) obtém-se uma variação temporal na intensidade detectada, em torno do ponto correspondente a o (característica dinâmica). A variação máxima desta intensidade, para uma pequena variação em (t) devido a (t) , ocorre no ponto do gráfico de I(t)x onde a inclinação é máxima, isto é, onde dI (2.33) V sen d é máxima, ou seja, em = o = +/2 ou -/2. Portanto, aplicando-se uma polarização de o = +/2 , pode-se manter o ponto de operação quiescente onde a sensibilidade de fase é máxima. Esta situação é denominada de condição de quadratura de fase [10]. Contudo, um sério problema surge devido a instabilidade do termo de fase o , associado a turbulências de ar, flutuações térmicas aleatórias e ruídos ambientais de baixa freqüência no local onde se encontra o interferômetro, mesmo que sejam aparentemente imperceptíveis como, por exemplo, as variações de densidade do ar provocadas pela temperatura corporal de uma pessoa em movimento no recinto [1]. Estas derivas (drifts) provocam variações espúrias na amplitude do sinal detectado (signal fading) que, sob certas circunstâncias, podem até anulá-lo completamente. Deve ser lembrado que, normalmente, os níveis de diferença de fase correspondentes aos sinais de interesse ( (t) na equação (2.27)) são muito inferiores a rad. Contudo, o fator de fase o, que idealmente deveria permanecer constante, sofre variações aleatórias devido a deriva, que podem chegar a 2 rad em poucos segundos [1]. Desta forma, o processo de extração do sinal (t) torna-se não trivial, em primeiro lugar, devido a própria complexidade do processo de demodulação de sinais modulados em fase (PM), e, em segundo lugar, pelo problema de fading. Deve-se ressaltar, porém, que este é um problema que surge não porque a interferometria óptica seja ineficiente, muito pelo contrário, mas sim porque ela é extremamente sensível. Isto exige que o ambiente a sua volta apresente características mecânicas de longa duração absolutamente controladas, ou, que sejam utilizados circuitos de realimentação (controle automático) ou técnicas de processamento de sinais adequados, para realizar a compensação do drift. As formas de se ajustar a condição de quadratura de fase no interferômetro e de eliminar os problemas associados a drift , serão discutidos na seções seguintes. No caso da técnica heterodina, e são diferentes entre si, e o termo (t) = (t)+, presente na equação (2.30), corresponde as bandas laterais, distribuídas em torno da portadora de alta freqüência em ( ). Neste caso, a expressão geral para a intensidade óptica normalizada no local do fotodetector é dada por: TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 21 I( t ) 1 1 V cos[ .t (t )] 2 (2.34) Neste sistema, as bandas laterais do sinal modulado em fase, estão distribuídas em torno de uma portadora cuja freqüência intermediária normalmente é estabelecida em valor elevado (dezenas de MHz). Uma característica importante da técnica heterodina é sua elevada seletividade em freqüência, inerente ao processo de detecção coerente [11], a qual permite que a largura de faixa de ruído seja reduzida a valores muito pequenos. 2.6 INTERFERÔMETRO DE MICHELSON No interferômetro de Michelson apenas um divisor de feixes é necessário, a fim de constituir os feixes do ramo sensor e de referência. A figura 2.5 ilustra sua configuração. Figura 2.5 - Interferômetro de Michelson. O ramo de referência é aquele no qual, após ser derivado do divisor de feixes, sofre reflexão no espelho fixo e retorna (através do divisor de feixes) em direção a um detector óptico. No ramo sensor, o outro raio de luz, derivado no divisor de feixes, sofre reflexão ou espalhamento na superfície de um objeto sob teste, retorna ao divisor de feixes, e interfere com a luz do ramo de referência sobre o fotodetector. Observa-se que os pontos F1 e F2 da figura 2.5, atuam como as duas fontes do interferômetro de Young da figura 2.1, e assim, a expressão geral para a intensidade óptica percebida pelo fotodetector tem a mesma forma que a equação (2.18) ou (2.34). Entretanto, deve-se tomar o cuidado de multiplicar os termos de fase pelo fator 2, pois cada ramo (sensor e de referência) é percorrido duas vezes por um mesmo raio. INTERFERÔMETROS DE DOIS FEIXES- 22 A geometria deste tipo de interferômetro o torna mais adequado (relativamente aos demais tipos de interferômetros de dois feixes) para detecção de pequenos deslocamentos (na faixa de angstrom e sub-angstrom), de vibrações em sistemas biológicos e de ultra-som, como será visto adiante. Pequenos deslocamentos da superfície especular do objeto sensor provocam variação do comprimento do caminho óptico, e daí, modulação da diferença de fase relativa. Além disso, a interposição de algum dispositivo óptico no ramo sensor, mantendo os dois espelhos fixos, permite medidas envolvendo variações relativas de índices de refração. Cita-se, finalmente, que esta configuração é mais econômica que o interferômetro Mach-Zehnder, por exemplo, além de muito mais simples de ser alinhada experimentalmente. Neste sentido, a possibilidade de usar o ramo sensor como sonda óptica não invasiva, desde que o objeto reflita ou espalhe luz, é muito atraente [10]. Contudo, este arranjo encontra problemas de implementação nas versões à fibra óptica ou óptica integrada, devido a dificuldades técnicas em se construir espelhos compatíveis com estas tecnologias. O mesmo não acontece com o interferômetro MachZehnder, que normalmente constitui a célula básica dos sistemas interferométricos nestas duas versões. Exercício 2.3: No interferômetro de Michelson existem parcelas dos feixes de laser que retornam à fonte após serem refletidos nos espelhos. Discutir as implicações deste problema e propor uma forma de evitá-lo. Exercício 2.4: O que acontece com a visibilidade das franjas a medida que a diferença entre os comprimentos dos braços de um interferômetro (Michelson ou Mach-Zehnder) torna-se cada vez maior. Estimar a máxima diferença admissível entre estes comprimentos no caso do laser de He-Ne. Sugestão: Utilizar as referências [4] ou [7]. Exercício 2.5: Afirmou-se no texto que para haver interferência construtiva entre dois feixes de luz linearmente polarizados, suas polarizações não devem ser ortogonais. Supondo que, por algum motivo, um dos feixes do interferômetro de Michelson (ou Mach-Zehnder) sofra uma rotação de polarização de 90 graus, relativamente ao outro feixe, proponha um arranjo de forma que a demodulação da fase óptica ainda possa ser realizada. Sugestão: Utilizar um polarizador antes do fotodetector. Exercício 2.6: Estabeleça um procedimento experimental para medir o comprimento de onda da luz de uma fonte operando no visível, utilizando o método de contagem de franjas. 2.7 REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS [1] [2] GIALLORENZI, T.G., et alii, IEEE Journal of Quantum Electronics, vol. QE-18 (4), pp.626-665, apr.1982. HARIHARAN, P. , Optical Interferometry, Sidney, Australia, Academic Press, 1985. TÉCNICAS DE DEMODULAÇÃO DE SINAIS EM INTERFEROMETRIA ÓPTICA - 23 [3] SMITH, R.G. , Photodetectors for Fiber Transmission Systems, Proceedings of IEEE, vol.68 (10), pp.1247-1253, 1980. [4] BORN, M. & WOLF, E. , Principles of Optics, 6. ed., Oxford, England, Pergamon Press, 1987. [5] KEISER, G. Optical Fiber Communicatin, 2. ed., Singapura, McGraww-Hill International Edition, 1991. [6] GUENTHER, B.D. & VANDERLUGT, A. , Interference and Fresnel Diffraction, IEEE Transactions on Education, vol.35 (2), may/1992. [7] HETCH, E. & ZAJAC, A. , Optics, EUA, Addison-Wesley Publishing Company, 1974. [8] DEFERRARI, H.A. , et alii, Vibrational Displacement and Mode-Shape Measurement by a Laser Interferometer, The Journal of the Acoustic Society of America, vol. 42 (5), pp 982-990, may/1967. [9] KINNSTAETTER, K. et alii, Accuracy of Phase Shifting Interferometry, Applied Optics, vol 27 (24), pp.5082-5089, dez/1988. [10] WAGNER, J.W. , Optical Detection of Ultrasound, in Physical Acoustic, vol. IXI, cap. 5, pp.201-266, Academic Press, 1990. [11] TEICH, M.C. , Infrared Heterodyne Detection, Proceedings of IEEE, vol 56 (1), pp.37-46, jan/1968.