Espectroscopia Raman MEV - Renishaw resource centre

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Espectroscopia Raman MEV
A espectroscopia Raman da Renishaw permite
aumentar as capacidades da Microscopia Eletrônica
de Varredura
Diamante de esqueleto cimentado (ScD)
A microanálise EDX mostra a
distribuição do carbono (C) e do
silício (Si) na amostra
Distribuição do carbono (C)
ß-SiC
de referência
Amostra
Grafite
de referência
Diamante de referência
Imagem eletrônica com
retrodispersão em baixo vácuo
A análise de pontos da
espectroscopia Raman (<2 µm)
permite identificar as regiões
escuras como diamante e as
regiões claras como ß-SiC com
alguma presença de grafite
Espectroscopia Raman MEV:
espectroscopia simultânea MEV,
EDX e Raman
• Morfologia e número atômico médio
Distribuição do silício (Si)
Amostra
400
600
800 1000 1200 1400 1600 1800
Desvio Raman / cm-1
Espectro da região clara
comparado com os espectros
de referência de ß-SiC e grafite
da base de dados de espectros
de materiais inorgânicos.
400
600
800 1000 1200 1400 1600 1800
Desvio Raman / cm-1
Espectro da região escura
comparado com o espectro de
referência do diamante da base
de dados de espectros de
materiais inorgânicos.
Também disponível do mesmo sistema
• Espectroscopias por catodoluminescência
e fotoluminescência
para estrutura eletrônica e física
de MEV
• Composição elementar
da análise EDX
• Composição e identificação química
com espectroscopia Raman
Sonda de fibra óptica
Raman da Renishaw
acoplada a uma coluna
MEV
• Estrutura física
(dados cristalográficos e mecânicos) da
espectroscopia Raman
• Medição da espessura de filmes
com espectroscopia Raman
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