Relatório de Trabalho: atividades e análises Diego Figueiredo CERN, 2 de Julho de 2013 1 Introdução • GBTX: testes de performance do Chip (~70%) – Learner Card • Entendendo o mapeamento dos pinos da máquina IC Tester; • Programando em linguagem STIL, XML e Java a máquina IC Tester (enviando e recebendo sinais). Uso comercial. – GBTX-LTB • Contém FPGA. Utilizada para serializar e deserializar sinais (IC Tester é mais lento que o GBTX); • Testes na LTB (FPGA foi programada com counter) – Enviamos e recebemos sinais do Tester para a LTB. – Interface de Configuração do GBTX (I2C) • Desenvolvendo interface em Java entre o IC Tester e o GBTX para envio de dados on-line aos registros do chip. Será utilizado para configurar o GBTX durante os testes. – GBTX-ICT • Placa com soquete do GBTX. Utilizada para comunicar o IC Tester com o chip (configuração do chip). • Análises Difrativas (~30%) – Produção Central de Di-jatos Exclusivos; – Produção Inclusiva de Z Difrativo. 2 Relatório: projeto chip GBTX 3 IC-Tester Setup GBTX-LTB Learner Card VHDL/Verilog representation of the ASIC Test vectors generated from the simulations Create/load the test vectors onto the IC tester IC Tester Perform the test Validade the ASIC performance 4 GBTX TX/RX Test Optical link @ 4.8 Gb/s GBTX-ICT Conn. D Conn. C GBTX-LTB Conn. B Load board 2012 Sapphire IC Tester Conn. A @ 320 Mb/s 5 GBTX TX/RX Test GBTX Socket GBTX LTB GBTX ICT IC Tester Loadboard 6 Relatório: análises 7 Análise Difrativa: Produção inclusiva de Z difrativo https://twiki.cern.ch/twiki/bin/viewauth/CMS/DiffractiveZAnalysis • Análise dos dados de 2010 RunA e RunB, canais de elétrons e múons. – Software • Informações de RECO e PAT de candidatos múons e elétrons. Isolamentos, variáveis cinemáticas, variáveis difrativas e informações do CASTOR. Utilizando pacote PAT FWD. – Amostras • Ntuples de múons criadas (dados e monte carlo). – Status • Resultados compatíveis com nota de análise do grupo de Electroweak (CMS EWK10-005) no canal de múons. Mesmos cortes aplicados. • Processando amostras de elétrons (Julho). – Planejamento • Análise de Energy Flow para definir os gaps (Julho); • Seleção difrativa “a La Hera” ou utilizando ηmax e ηmin e CASTOR (Julho/Agosto). 8 9 Análise Difrativa: Produção Central de Di-jatos Exclusivos https://twiki.cern.ch/twiki/bin/view/CMS/FwdPhysicsExclusiveDijetsAnalysis • Análise dos dados de 2010 RunB – Software • Macros de Análise foram atualizadas. Fatores de escala, pile-up reweight, correções do trigger e das eficiências podem ser aplicados on-line. Utilizando pacote PAT FWD. • Necessário Update em alguns métodos que estão repetidos em diferentes módulos. – Status • Amostras serão reprocessadas com nova variável: traços não associados aos jatos e CASTOR tagged. – Planejamento • Refazer análise com novos cortes (Julho/Agosto); • Estabelecer limites estatísticos nos excessos dos dados(Agosto/Setembro); • Escrever AN (Julho/Agosto/Setembro). 10 11 Backup Slides 12 Learner Card I/O Loopback Orange: programmed Yellow: input Blue: output 13 GBTX-LTB I/O FPGA Loopback Yellow: inputs Blue: outputs H5 appears stuck at one 14 GBTX-LTB 4-bit counter Test – Direct SE clock input Yellow: inputs Blue: outputs Clock_in Carry Out [3:0] 15