UnB - FT - Departamento de Engenharia Elétrica 167347- INSTRUMENTACAO DE CONTROLE – 2018/2 Prof. Lélio Ribeiro Soares Júnior (e-mail: [email protected], tel: 3107-5568) www2.ene.unb.br/lelio/ PLANO DE ENSINO HORÁRIO: _________________________________________________________________________________ Turma A: Terça e Quinta 10:00 - 11:50 hs PROGRAMA: _________________________________________________________________________________ o ESTRUTURA GERAL DE UM SISTEMA DE MEDIÇÃO: Sensores. Condicionadores de sinais. Processamento de sinais. Apresentação ou uso das quantidades medidas. o CARACTERÍSTICAS ESTÁTICAS DOS ELEMENTOS DE UM SISTEMA DE MEDIÇÃO: Características sistemáticas. Modelo Geral. Calibração. o CARACTERÍSTICAS DINÂMICAS DOS ELEMENTOS DE UM SISTEMA DE MEDIÇÃO: Função de transferência. Identificação dinâmica. o INTERFERÊNCIAS EM CIRCUITOS DE MEDIÇÃO o ELEMENTOS SENSORES: Sensores resistivos. Capacitivos. Indutivos. Termoelétricos. Eletromagnéticos. Elásticos. Piezoelétricos. o ELEMENTOS DE CONDICIONAMENTO DE SINAIS: Pontes de deflexão. Amplificadores/Conversores. Filtros. o ELEMENTOS DE PROCESSAMENTO DE SINAIS: Conversor digital-analógico. Conversor analógico-digital. Microcomputador. Microcontrolador. DSP e CLP. o ELEMENTOS DE APRESENTAÇÃO DE DADOS: Indicadores analógicos e digitais. Gravadores (registradores) analógicos e digitais. o CONTROLE E ACIONAMENTO: Implementação de controladores analógicos (elétricos e eletrônicos). Atuadores em processos. Acionamentos eletrônicos. Acionamentos eletromecânicos. o EXPERIÊNCIA DE LABORATÓRIO COM USO DE METODOLOGIA APRESENTADA. REFERÊNCIAS: _________________________________________________________________________________ [1] J. P. Bentley, "Principles of Measurement Systems", 4a. edição, Longman Scientific & Technical, 2005. [2] A. S. Sedra e K. Smith, "Microeletrônica ", 4a. edição, Makron Books, 1999. [3] F. Fröhr e F. Orttenburger, "Técnicas de controle eletrônico", 1a. edição, Nobel, 1990. [5] E. O. Doebelin, “Measurement Systems: application and design”, 4a. edição, McGraw-Hill, 1990. [6] J. Millman e C.C. Halkias, "Eletrônica", 2a. edição, volumes 1 e 2, McGraw-Hill do Brasil, 1981. [7] W. J. Tompkins e J. G. Webster, “Interfacing sensors to IBM PC”, 1a. edição, Prentice Hall, 1988. [8] R. Pallás-Areny e J. G. Webster, “Sensors and signal conditioning”, 1a. edição, John Willey & Sons, 1991. [9] C. J. Chesmond, “Control System Technology”, 1a. edição, Editor Edward Arnold, 1984. [10] T. Bartelt, “Instrumentation and Process Control”, THOMSON Delmar Learning, 2006 LIVRO TEXTO: J. P. Bentley, "Principles of Measurement Systems", 4a. edição, Longman Scientific & Technical, 2005. Mesmo adotando um livro texto, itens melhor abordados em outros livros poderão ser apresentados em certas aulas ao longo do semestre. AVALIAÇÃO _________________________________________________________________________________ Serão aplicadas três provas teóricas (PT1, PT2 e PT3). A avaliação será individual. Durante a realização das provas será proibido o uso de calculadoras. A média das provas de teoria (MPT) será calculada como: MPT = (0,3 PT1 + 0,3 PT2 + 0,4 PT3). Caso o aluno tenha perdido uma das três provas (PT1, PT2 e PT3) por motivo justificado (por força maior: doença, luto, por ex.), poderá solicitar uma prova substitutiva. A justificativa deve ser apresentada no máximo sete dias após a realização da prova. Prováveis datas para realização das provas: Prova PT1: 18/09/2018 Prova PT2: 01/11/2018 Prova PT3: 06/12/2018 As aulas serão expositivas. Os alunos deverão observar todos os procedimentos necessários para um bom ambiente em sala de aula. A presença será rigorosamente verificada. Em momentos de avaliação (provas) não será tolerada qualquer ação no sentido de tirar o caráter individual do procedimento. (Obs. “Colas” também serão observadas no momento da correção) Ao final do semestre será atribuída uma nota (ML) às atividades realizadas pelo(a) aluno(a) no laboratório, conforme indicado adiante. A média final da disciplina Instrumentação de controle será calculada por: MF = (0,85*MPT) + (0,15* ML). O professor estará a disposição do(a) aluno(a) para atendimento fora do horário de aula, bastando para isso marcar um horário conveniente para ambos. No dia que antecede uma prova, o professor não estará à disposição para atendimentos. Após a divulgação da nota de determinada prova, o(a) aluno(a) terá o prazo de uma semana para fazer a revisão informal das questões e solicitar alteração, em caso de erro de correção ou erro na soma das notas atribuídas às questões. Ao final do semestre o aluno não poderá realizar revisão informal das primeiras provas. Caso queira fazer a revisão das primeiras provas terá que entrar com um pedido formal de revisão de menção junto à secretaria, preenchendo formulário próprio, justificando o pedido e indicando as dúvidas existentes. Nesse caso o professor irá analisar o pedido, podendo aceitar ou não. Para aprovação, o(a) aluno(a) precisará ter médias MPT e ML iguais ou maiores que 5.0 e presença maior ou igual a 75%. LABORATÓRIO _________________________________________________________________________________ Na fase final do semestre deverá ser desenvolvido um projeto, a ser especificado posteriormente em roteiro a ser entregue aos alunos. Será designada uma data para acompanhamento do desenvolvimento do projeto, em laboratório. O desenvolvimento do projeto não deverá ser feito utilizando-se apenas o horário de acompanhamento em laboratório. O projeto deverá ser realizado por grupos de no máximo três alunos. Será avaliada a participação individual de cada aluno nos trabalhos do grupo. Ao final do trabalho cada grupo deverá entregar um relatório de no máximo 15 páginas. Data de acompanhamento do projeto: 22/11/2018. Data de entrega do relatório: 06/12/2018. _______________________________________________________________ Prof. Lélio Ribeiro Soares Junior – ENE 150762 (em 14/08/2018)
