tecnico de lab. microscopia eletronica - CCV

UNIVERSIDADE FEDERAL DO CEARÁ
COORDENADORIA DE CONCURSOS – CCV
Concurso Público para Provimento de Cargo Técnico-Administrativo em Educação
Edital nº 101/2014
Data: 08 de Junho de 2014
Duração das 9:00 às 13:00 horas
TÉCNICO DE LABORATÓRIO / MICROSCOPIA ELETRÔNICA
LEIA COM ATENÇÃO AS INSTRUÇÕES ABAIXO.
01. Antes de iniciar a resolução das questões, verifique se o Caderno de Provas confere com o Cargo
da inscrição e se está completo. Qualquer reclamação deverá ser feita nos primeiros 15 (quinze)
minutos após o início da prova.
02. Anote, na capa do Caderno de Provas, o seu número de inscrição e o número da sala.
03. Confira os dados do cabeçalho da Folha-Resposta. Havendo necessidade de correção de algum
dado (CPF, NOME ou RG), chame o fiscal para anotar a correção. Para marcar a resposta de uma
questão, preencha, totalmente, com caneta azul ou preta, apenas a quadrícula correspondente a
sua opção. Não use corretivo nem rasure a Folha-Resposta.
04. Durante a realização das provas, será feita a identificação dos candidatos através da verificação do
original do documento de identidade e da coleta da assinatura na Ata de Aplicação e na FolhaResposta, no campo destinado à assinatura.
05. A duração da prova é de 4 (quatro) horas e o tempo mínimo de permanência em sala é de 1 (uma) hora.
06. É aconselhável reservar 30 (trinta) minutos para o preenchimento da Folha-Resposta.
07. O candidato, ao terminar a prova, só poderá sair da sala após entregar o Caderno de Prova e a
Folha-Resposta.
08. Os dois últimos candidatos só poderão deixar a sala simultaneamente e deverão assinar a Ata de
Aplicação.
09. A desobediência a qualquer dessas determinações e o desrespeito ao pessoal da supervisão,
coordenação e fiscalização são faltas que eliminam o candidato do concurso.
10. Será eliminado do Concurso o candidato cujo celular estiver ligado durante a realização das provas.
11. Acompanhe o Calendário de Atividades do Concurso, através do endereço eletrônico
http://www.ccv.ufc.br.
Coloque, de imediato, o seu número de inscrição e o número de sua sala nos
retângulos abaixo.
Inscrição
Sala
Prova de Língua Portuguesa
10 questões
TEXTO
Sobre sucatas
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Isto porque a gente foi criada em lugar onde não tinha brinquedo fabricado. Isto porque a
gente havia que fabricar os nossos brinquedos: eram boizinhos de osso, bolas de meia,
automóveis de lata. Também a gente fazia de conta que sapo é boi de sela e viajava de sapo.
Outra era ouvir nas conchas as origens do mundo. Estranhei muito quando, mais tarde, precisei
de morar na cidade. Na cidade, um dia, contei para minha mãe que vira na Praça um homem
montado no cavalo de pedra a mostrar uma faca comprida para o alto. Minha mãe corrigiu que
não era uma faca, era uma espada. E o homem era um herói da nossa história. Claro que eu não
tinha educação de cidade para saber que herói era um homem sentado num cavalo de pedra.
Eles eram pessoas antigas da história que algum dia defenderam a nossa pátria. Para mim
aqueles homens em cima da pedra eram sucata. Seriam sucata da história. Porque eu achava
que uma vez no vento esses homens seriam como trastes, como qualquer pedaço de camisa nos
ventos. Eu me lembrava dos espantalhos vestidos com as minhas camisas. O mundo era um
pedaço complicado para o menino que viera da roça. Não vi nenhuma coisa mais bonita na
cidade do que um passarinho. Vi que tudo que o homem fabrica vira sucata: bicicleta, avião,
automóvel. Só o que não vira sucata é ave, árvore, rã, pedra. Até nave espacial vira sucata.
Agora eu penso uma garça branca de brejo ser mais linda que uma nave espacial. Peço
desculpas por cometer essa verdade.
(BARROS, Manoel de. Memórias inventadas: as infâncias de Manoel de Barros. São Paulo: Editora Planeta do Brasil, 2008 p.61)
01. A frase que melhor traduz a ideia principal do texto está na alternativa:
A) “Isto porque a gente foi criada em lugar onde não tinha brinquedo fabricado” (linha 01).
B) “Minha mãe corrigiu que não era uma faca, era uma espada” (linhas 06-07).
C) “Para mim aqueles homens em cima da pedra eram sucata” (linhas 09-10).
D) “Eu me lembrava dos espantalhos vestidos com as minhas camisas” (linha 12).
E) “Não vi nenhuma coisa mais bonita na cidade do que um passarinho” (linhas 13-14).
02. Assinale a alternativa em que todas as palavras listadas representam o ponto de vista positivo defendido
pelo texto.
A) “ave” (linha 15) – “rã (linha 15) – “garça (linha 16).
B) “herói” (linha 07) – “pátria” (linha 09) – “roça” (linha 13).
C) “cidade” (linha 14) – “cavalo” (linha 08) – “espada” (linha 07).
D) “bicicleta” (linha 14) – “avião” (linha 14) – “automóvel” (linha 15).
E) “espantalhos” (linha 12) – “camisas” (linha 12) – “passarinho” (linha 14).
03. A respeito dos processos referenciais presentes no texto e seus efeitos de sentido, é correto afirmar que:
A) a palavra “agora” (linha 16) marca no texto o momento em que o enunciador vê uma garça do brejo.
B) o pronome “nossa” (linha 07) cria uma identidade entre mãe e filho, mas não entre autor e leitor.
C) a expressão “o menino” (linha 13) refere-se a uma criança que o enunciador havia encontrado na
“Praça” (linha 05).
D) o pronome “nossos” (linha 02) reforça a identidade entre autor e leitor criada pela expressão “a gente”
(linha 01).
E) as expressões “Eles” (linha 09), “aqueles homens” (linha 10) e “esses homens” (linha 11) recuperam
semanticamente o termo “herói” (linhas 07 e 08).
04. A inversão da ordem das palavras sugerida é adequada aos sentidos do texto somente na alternativa:
A) “algum dia” (linha 09 ) – dia algum
B) “nenhuma coisa” (linha 13) – coisa nenhuma
C) “qualquer pedaço” (linha 11) – pedaço qualquer
D) “sucata da história” (linha 10) – história da sucata
E) “brinquedo fabricado” (linha 01) – fabricado brinquedo
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05. Em “Eles eram pessoas antigas da história que algum dia defenderam a nossa pátria” (linha 09), a
palavra que tem classificação morfossintática idêntica à que apresenta na alternativa:
A) Minha mãe corrigiu que não era uma faca, era uma espada.
B) Não vi nenhuma coisa mais bonita na cidade do que um passarinho.
C) O mundo era um pedaço complicado para o menino que viera da roça.
D) Porque eu achava que uma vez no vento esses homens seriam como trastes...
E) Agora eu penso uma garça branca de brejo ser mais linda que uma nave espacial.
06. O sinal de dois pontos em “tudo que o homem fabrica vira sucata: bicicleta, avião, automóvel” (linhas
14-15) justifica-se por:
A) introduzir uma enumeração.
B) indicar uma síntese conclusiva.
C) sugerir uma consequência possível.
D) marcar o discurso de outro interlocutor.
E) apresentar uma quebra no fluxo de ideias.
07. Apresenta a mesma regência de “fabricar” (linha 02) o verbo sublinhado na alternativa:
A) “(...) precisei de morar na cidade” (linhas 04-05).
B) “Minha mãe corrigiu que não era uma faca (...)” (linhas 06-07).
C) “E o homem era um herói da nossa história” (linha 07).
D) “Eu me lembrava dos espantalhos vestidos com as minhas camisas” (linha 12).
E) “Só o que não vira sucata é ave, árvore, rã, pedra” (linha 15).
08. Assinale a alternativa que traz uma forma verbal de mesmo tempo, modo e pessoa da forma verbal “vira”
(linha 05).
A) “era uma espada” (linha 07).
B) “Seriam sucata da história” (linha 10).
C) “Eu me lembrava dos espantalhos” linha 12).
D) “para o menino que viera da roça” (linha 13).
E) “Até nave espacial vira sucata” (linha 15).
09. Assim como “havia” (linha 02), foi empregado corretamente o verbo destacado na alternativa:
A) Haviam duas estátuas representando os heróis da guerra.
B) Havia participado da guerra soldados ainda muito jovens.
C) Sempre deverão haver soldados dispostos a defender a pátria.
D) Soldados bem treinados sempre se houveram bem nas batalhas.
E) Podem haver inúmeras guerras, mas a humanidade permanecerá.
10. Assinale a alternativa em que a preposição até está empregada com o mesmo sentido que assume em:
“Até nave espacial vira sucata” (linha 15).
A) Até a Copa as obras de mobilidade estarão prontas.
B) Até terminarem os jogos, o torcedor não sossegará.
C) Até os cachorros têm direito ao amor de família.
D) Até a praia as crianças não aguentam andar.
E) Até a metade do filme, só vimos bobagens.
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Prova de Conhecimentos Específicos
40 questões
11. A técnica de microscopia eletrônica de varredura apresenta grande versatilidade na análise de materiais
orgânicos e inorgânicos em virtude de algumas características. Marque o item que apresenta corretamente
uma característica intrínseca de um MEV.
A) Amostras de lâmina fina.
B) Resolução entre 0,2 a 0,5 nm.
C) Baixa profundidade de campo.
D) Tensões de aceleração entre 80 e 300 kV.
E) Obtenção de imagens de superfícies polidas ou rugosas.
12. Para análises de superfícies com grande relevo topográfico é recomendado o uso de baixos ângulos de
convergência do feixe de elétrons. Esta medida é adotada, pois:
A) O baixo ângulo de convergência do feixe de elétrons resulta num menor volume de interação,
confinando a interação numa região muito próxima da superfície da amostra.
B) O baixo ângulo de convergência do feixe de elétrons maximiza o foco num ponto muito pontual,
melhorando a resolução e permitindo a identificação de detalhes muito próximos uns dos outros.
C) Quando um baixo ângulo de convergência do feixe de elétrons é usado, o diâmetro do feixe varia
muito pouco ao longo de uma grande distância vertical e assim características na superfície em
diferentes alturas aparentarão todas estarem em foco.
D) Um menor ângulo de convergência do feixe de elétrons faz com que o diâmetro do feixe aumente,
resultando num aumento a área superficial de interação fazendo com que maiores extensões da
superfície sejam iluminadas pelo feixe mantendo todas no mesmo foco.
E) Um baixo ângulo de convergência do feixe de elétrons aumenta o índice de impacto do elétron com a
matéria, resultando numa desaceleração mais intensa dos elétrons do feixe incidente, o que
proporciona um aumento significativo do sinal produzido na superfície.
13. Os microscópios eletrônicos modernos permitem a operação do MEV em baixa tensão de aceleração (< 5 kV).
Este modo de operação é aplicado na análise de materiais inorgânicos quando se deseja:
A) Microanálise química de raios-X.
B) Riqueza de detalhes da superfície da amostra.
C) Grande profundidade de foco.
D) Informação cristalográfica.
E) Alta resolução.
14. Detectores de elétrons Everhart-Thornley (E-T) são os mais populares em microscopia eletrônica de
varredura, pois apresentam grande eficiência, grande ângulo sólido de coleção, alto ganho de
amplificação, baixo ruído e robustez. Este detector possui uma gaiola de Faraday na sua extremidade que
pode ser polarizada (bias) e em função da tensão aplicada diferentes efeitos podem ser observados. Marque
a opção correta que correlaciona a tensão de bias aplicada com o efeito sobre a coleção de elétrons.
A) Quando polarizado negativamente, o detector E-T coleta somente elétrons secundários.
B) Quando o detector E-T é polarizado negativamente ocorre a repulsão dos elétrons retroespalhados.
C) Tensões de bias positivas aplicadas ao detector E-T tem a função de repelir os elétrons secundários.
D) Tensões de bias positivas aplicadas ao detector E-T afetam diretamente os elétrons retroespalhados de
alta energia.
E) A aplicação de tensão de bias negativa no detector E-T proporciona a coleção somente de elétrons
retroespelhados.
15. Raios-X característicos são um dos tipos de sinais de interesse em microscopia eletrônica, uma vez que
baseada na sua detecção é possível adquirir informações sobre a composição química do material analisado.
A produção destes raios-X é considerada um efeito colateral de que tipo de interação elétron-matéria?
A) Difração.
B) Espalhamento elástico.
C) Espalhamento inelástico.
D) Espalhamento de alto ângulo.
E) Espalhamento de baixo ângulo.
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16. Em microscopia eletrônica, a fonte de elétrons é fundamental para garantir o desempenho necessário ao
equipamento, estando diretamente relacionado com a resolução. Cada tipo de canhão apresenta
características específicas. Marque a opção que apresenta corretamente as características de um canhão
termoiônico com hexaboreto de Lantâneo (LaB6) operando a 100 kV.
A) Função trabalho  de 2,4 eV; Temperatura de operação de 1700 K; Densidade de corrente de 10 6 A/m2;
Dispersão de energia de 1,5 eV; tempo de vida do filamento 500 horas.
B) Função trabalho  de 2,4 eV; Temperatura de operação de 300 K; Densidade de corrente de 1010 A/m2;
Dispersão de energia de 3,0 eV; tempo de vida do filamento 100 horas.
C) Função trabalho  de 4,54 eV; Temperatura de operação de 2.700 K; Densidade de corrente de 106 A/m2;
Dispersão de energia de 1,5 eV; tempo de vida do filamento 500 horas.
D) Função trabalho  de 4,5 eV; Temperatura de operação de 300 K; Densidade de corrente de 10 4 A/m2;
Dispersão de energia de 1,5 eV; tempo de vida do filamento >1000 horas.
E) Função trabalho  de 4,54 eV; Temperatura de operação de 1700 K; Densidade de corrente de 1010 A/m2;
Dispersão de energia de 0,3 eV; tempo de vida do filamento 100 horas.
17. Atualmente, um dos métodos de análise em microscopia que têm possibilitado enormes avanços na
caracterização de materiais é a técnica de EBSD. Este método permite a identificação da estrutura
cristalina e da orientação cristalográfica de materiais policristalinos. O processo de formação da imagem
neste caso consiste na:
A) Coleção, amplificação e processamento dos sinais gerados pela produção de elétrons secundários
emergindo da superfície da amostra em função da orientação cristalográfica.
B) Coleção direta dos elétrons espalhados por difração em cada ponto de varredura da superfície da
amostra e posterior quantificação e correlação com a respectiva orientação cristalográfica.
C) Coleção e indexação de padrões de difração de elétrons produzidos por espalhamento inelástico dos
elétrons na superfície da amostra em cada ponto da superfície da amostra e comparação com padrões
teóricos pré-definidos.
D) Coleção e indexação de padrões de difração de raios-X característicos produzidos por espalhamento
dos elétrons na superfície da amostra em cada ponto da superfície da amostra e comparação com a
composição esperada para o cristal.
E) Coleção e indexação de padrões de difração de elétrons produzidos por espalhamento elástico dos
elétrons na superfície da amostra em cada ponto da superfície da amostra e comparação com padrões
teóricos pré-definidos.
18. A figura apresentada ao lado é uma representação esquemática de
um microscópio eletrônico de varredura, a qual tem os principais
componentes do MEV numeradas de 1 a 5. Marque a alternativa
que contém corretamente os 5 componentes do MEV.
1
2
3
4
5
a
c
b
Amostra
A) 1 – canhão; 2 – lente condensadora; 3 – abertura da objetiva; 4 – lente objetiva; 5 – lente projetora.
B) 1 – canhão; 2 – lente condensadora; 3 – abertura da objetiva; 4 – lente objetiva; 5 – lente projetora.
C) 1 – canhão; 2 – lente condensadora; 3 – abertura da objetiva; 4 – lente defletora; 5 – lente objetiva.
D) 1 – canhão; 2 – lente condensadora; 3 – abertura da condensadora; 4 – lente defletora; 5 – lente objetiva.
E) 1 – canhão; 2 – lente objetiva; 3 – abertura da condensadora; 4 – lente condensadora; 5 – lente defletora.
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19. A interação do elétron do feixe incidente com o núcleo dos átomos do material, sofrendo desaceleração devido
à ação de forças de Coulomb, e reaceleração sem perda de energia são características de que tipo de sinal?
A) Elétrons retroespalhados.
B) Elétrons desacelerados.
C) Elétrons secundários.
D) Elétrons refratados.
E) Elétrons Auger.
20. Um microscópio eletrônico de transmissão operando no modo convencional com a abertura de área
selecionada (SAD) inserida no plano imagem abaixo da lente objetiva estará produzindo que tipo de
informação?
A) Imagem de campo claro.
B) Imagem de alta resolução.
C) Imagem de campo escuro.
D) Padrão de difração de raios-X.
E) Padrão de difração de elétrons.
21. Imagens de microscopia de transmissão dependem fortemente da função de transferência de contraste
para uma dada desfocalização. A desfocalização ótima ou desfocalização de Scherzer para a visualização
de imagens em MET é dependente de algumas características. Marque a opção que apresenta
corretamente os fatores que afetam a desfocalização.
A) Coeficiente de aberração esférica e astigmatismo.
B) Coeficiente de aberração esférica e tensão de aceleração.
C) Coeficiente de aberração cromática e tensão de aceleração.
D) Coeficiente de aberração cromática e comprimento de onda do elétron.
E) Coeficiente de aberração cromática e coeficiente de aberração esférica.
22. Microscópios eletrônicos podem requerer os benefícios de um plano de manutenção preventiva, de modo
a manter níveis adequados de desempenho em operação. Os procedimentos de manutenção que são
realizados na coluna do microscópio devem incluir verificações importantes de itens que melhoram o
desempenho do equipamento, tais como:
A) Calibração da magnificação.
B) Verificação das bombas de vácuo.
C) Operação de verificação dos mecanismos de controle.
D) Inspeção, limpeza e/ou substituição do conjunto de aberturas.
E) Calibração e limpeza do sistema de compensação de alta tensão.
23. Quando o desempenho de um microscópio eletrônico está prejudicado, dificultando a produção de
imagens com a resolução requerida dentro do normalmente especificado para o equipamento, o próprio
operador, se experiente, poderá intervir realizando o procedimento de:
A) Calibração da magnificação.
B) Alinhamento óptico do feixe.
C) Verificação e alinhamento dos eixos do estágio.
D) Alinhamento e calibração do sistema de resolução.
E) Inspeção, limpeza e/ou substituição do conjunto de aberturas.
24. Após a substituição do filamento em um canhão de emissão termiônica, alguns procedimentos devem ser
executados para a boa operação do microscópio, dentre elas podemos destacar a saturação do filamento e
o alinhamento do feixe. Em relação à saturação do filamento, assinale a alternativa correta.
A) Operando acima da saturação, a corrente de emissão é significativamente aumentada implicando em
aumento dos sinais obtidos.
B) Operando acima da saturação, a vida da fonte é reduzida sem qualquer benefício compensatório para
análise em microscopia.
C) Operando muito abaixo da saturação, a corrente de emissão é reduzida, mas a intensidade dos sinais
que saem da amostra é preservada.
D) Operando muito abaixo da saturação, a corrente de emissão é reduzida, mas não há qualquer aumento
de vida da fonte de emissão de elétrons.
E) Operando acima da saturação, a vida da fonte é prolongada pelo aumento da densidade de elétrons
emitidos implicando em benefícios para a operação do canhão.
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25. O sistema de vácuo de microscópios eletrônicos é considerado uma importante categoria de
equipamentos que requerem um planejamento de manutenção específico para garantir a boa performance
do microscópio. Neste sentido, que atividades devem ser realizadas durante a manutenção do sistema de
vácuo?
A) Checagem do acionamento das válvulas, substituição das aberturas e calibração do medidor de vácuo.
B) Verificação do alinhamento do feixe, checagem das travas de segurança e calibração do medidor de vácuo.
C) Calibração do medidor de vácuo, limpeza dos rotores da bomba turbomolecular e troca do óleo da
bomba difusora.
D) Verificação do funcionamento das válvulas, calibração do medidor de vácuo e troca do óleo da bomba
difusora.
E) Checagem das travas de segurança, limpeza dos rotores da bomba turbomolecular e troca do óleo da
bomba difusora.
26. A Figura abaixo apresenta uma micrografia obtida por MEV operando no modo SE (a) e o respectivo
mapeamento químico de EDS para o elemento titânio (b). São observados três partículas na Figura (a), as
quais se encontram inseridos dentro dos quadrados com linhas tracejadas. Na Figura (b) as mesmas
partículas são identificadas como pontos de mais alta intensidade (quadrados cercados por linhas
tracejadas). Contudo, na mesma imagem (Fig. (b) são observadas ainda indicações de mais duas
partículas, as quais não são visíveis na Figura (a). A explicação para este comportamento, considerando
os princípios físicos de interação elétron/matéria é devido a:
A) A difração de raios-X é mais intensa que a emissão de elétrons SE.
B) Alguns tipos de partículas são invisíveis aos elétrons secundários, sendo portanto, difícil de identifica-las.
C) Fotos de raios-X são produzidos mais facilmente pelo titânio do que pelo restante dos elementos
presentes no material.
D) Elétrons SE apresentam comprimento de onda muito menor do que os raios-X característicos do Ti,
possuindo portanto menor resolução.
E) Raios-X característicos são emitidos de regiões mais profundas do volume de interação permitindo a
visualização de estruturas sub-superficiais.
27. Para aumentar a condutividade de determinados tipos de amostras e evitar problemas de carregamento
excessivo, torna-se necessária a deposição de recobrimentos muito finos com materiais altamente
condutivos em algumas situações. Em amostras de elementos leves submetidas a estudos analíticos
existem algumas restrições quanto aos tipos de recobrimentos. Marque a opção correta referente a
aplicação de revestimentos para estudos analíticos de elementos leves.
A) A camada deve ser espessa o suficiente para permitir uma boa condutividade e auxiliar na produção
dos raios-X.
B) Filmes de carbono são indicados para amostras delicadas pois a formação da camada é facilitada pela
baixa temperatura de evaporação.
C) Em estudos analíticos de elementos com número atômico Z variando entre 8 e 20 devem ser evitados
recobrimentos depositados com elementos como C, Al e Cr.
D) O ouro é a melhor opção para estudos analíticos de elementos leves, pois apresenta uma elevada
condutividade elétrica e seus picos referentes à camada M não sobrepõem aos demais elementos analisados.
E) Alumínio e cromo são indicados como recobrimentos para a análise de materiais com elementos de
baixo número atômico, pois existe uma mínima sobreposição de picos com os picos dos elementos
leves.
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28. A preparação de amostras de material inorgânico para análise cristalográfica pela técnica de EBSD,
quando realizada convencionalmente por processos de lixamento e polimento mecânico, necessita de
uma etapa adicional de polimento com sílica coloidal cujo objetivo é:
A) Revelar os contornos de grão da estrutura.
B) Minimizar o efeito de borda causado pela presença de elevados níveis de rugosidade.
C) Eliminar riscos superficiais nanométricos introduzidos nas etapas anteriores de polimento.
D) Remover camadas deformadas plasticamente pelos processos de polimento mecânico anteriores.
E) Aumentar a emissividade de elétrons retroespalhados na superfície se comparada com superfícies
mais rugosas.
29. A preparação metalográfica convencional de materiais para observação em microscopia eletrônica de
varredura consiste de diversas etapas que devem ser realizadas em sequência para alcançar o resultado
final desejado. Neste sentido, indique qual a sequência de preparação correta de uma amostra metálica
para observação em MEV operando no modo BSE (Contraste Z).
A) Corte  lixamento mecânico com abrasivo  ataque químico  observação ao microscópio.
B) Corte  lixamento mecânico com abrasivo  polimento mecânico  observação ao microscópio.
C) Corte  lixamento mecânico com abrasivo  polimento mecânico  ataque químico  observação
ao microscópio.
D) Corte  lixamento mecânico com abrasivo  ataque químico  polimento eletrolítico 
observação ao microscópio.
E) Corte  lixamento mecânico com abrasivo  polimento mecânico  polimento com sílica coloidal
 ataque químico  observação ao microscópio.
30. A técnica de espectroscopia por dispersão de energia de raios-X (EDS) permite a realização de análises
de composição química em materiais. As análises quantitativas por esta técnica devem ser corrigidas em
função de fenômenos, classificados em três categorias: número atômico, absorção e fluorescência
secundária (Correção ZAF). Esta correção é necessária, porque:
A) parte do raio-X produzido é absorvido pelo material antes de escapar da superfície da amostra.
B) a fluorescência secundária de elementos pesados pode ser produzida pela absorção de fótons de raios-X
característicos de elementos mais leves.
C) parte da energia do raio-X produzido pela amostra é gasta para atravessar certa quantidade de matéria
e produzir foto-elétrons no detector.
D) o espalhamento elástico que resulta na produção de elétrons retroespalhados e é responsável pela
ionização e geração de raios–X é dependente do número atômico dos elementos presentes na amostra.
E) o espalhamento inelástico que resulta na produção de elétrons retroespalhados e é responsável pela
ionização e geração de raios–X é dependente do número atômico dos elementos presentes na amostra.
31. Qual dos materiais descritos abaixo é comercialmente usado na construção dos sistemas de emissão de
elétrons nos microscópios eletrônicos?
A) Ouro.
B) Amônia.
C) Chumbo.
D) Tungstênio.
E) Nitrato de prata.
32. No processo de emissão de elétrons, após interação do feixe incidente com a amostra, qual dos sinais
listados abaixo contém mais informação sobre a composição elementar da amostra?
A) Elétrons colimados.
B) Elétrons retroespalhados.
C) Elétrons secundários.
D) Elétrons plasmônicos.
E) Elétrons relativísticos.
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33. O microscópio eletrônico de transmissão (MET) é capaz de gerar duas imagens contendo informações
bem distintas a respeito da amostra: uma relacionada com a morfologia da amostra e outra relacionada
com a estrutura cristalina da amostra. Quais são essas imagens?
A) Imagem de campo claro e imagem com o padrão de difração.
B) Imagem de campo escuro e imagem de mapeamento elementar.
C) Imagem de mapeamento elementar e imagem de campo claro.
D) Imagem Auger e imagem com o padrão de difração.
E) Imagem de campo escuro e imagem Auger.
34. Qual plano projetado no anteparo ou na câmera CCD (charge-coupled device) do microscópio eletrônico
de transmissão (MET) contém a informação sobre os elétrons difratados pela amostra?
A) Plano focal posterior da imagem.
B) Plano focal posterior da amostra.
C) Plano focal anterior da lente projetora.
D) Plano focal anterior da lente objetiva.
E) Plano focal posterior da lente intermediária.
35. Através de quais parâmetros pode-se variar diretamente a velocidade de aquisição da imagem em um
microscópio eletrônico de varredura?
A) Foco da imagem e astigmatismo.
B) Aberração esférica e aberração cromática.
C) Colimação do feixe de elétrons e resolução virtual da imagem (em pixels).
D) Diâmetro (spot) do feixe de elétrons e tempo de residência do feixe de elétrons.
E) Tempo de residência do feixe de elétrons e resolução virtual da imagem (em pixels).
36. Nos microscópios que utilizam filamentos, pode-se constatar a deterioração dessa fonte de elétrons
através da necessidade de:
A) oscilação (woobling) do foco da imagem.
B) aumento da corrente elétrica do canhão de elétrons.
C) diminuição do potencial elétrico no cilindro de Wehnelt.
D) aumento da magnificação no modo de elétrons secundários.
E) aumento do diâmetro do feixe (spot) em modo convergente.
37. Para que haja emissão adequada de elétrons em um canhão de emissão por campo elétrico (field emissio
gun ou FEG), utilizado nos microscópios eletrônicos de alta resolução, há necessidade de se utilizar alto
vácuo. Portanto, qual é a faixa de pressão, em Pascal, que o canhão de elétrons deve permanecer?
A) < 1010 Pa
B) < 107 Pa
C) < 102 Pa
D) < 10‒2 Pa
E) < 10‒7 Pa
38. Como fazer a calibração da barra de escala de tamanho, em um microscópio eletrônico?
A) Detectando os elétrons retroespalhados.
B) Variando o foco em função da magnificação.
C) Utilizando uma amostra-padrão de referência.
D) Variando o potencial elétrico usado para formação do feixe.
E) Utilizando um conjunto de aberturas com tamanhos conhecidos.
39. Supondo que a amostra a ser analisada tenha baixa condutividade elétrica, e que se deseja fazer um
mapeamento elementar da amostra por espectroscopia de energia dispersiva por raios-X (EDS), com o
mínimo de interferência de sinal, qual dos procedimentos abaixo deve ser adotado para gerar os mapas
elementares usando o microscópio eletrônico de varredura (MEV), sabendo que a amostra apresenta
elementos químicos com picos espectrais entre 1 e 10 kV:
A) Recobrimento da amostra com um filme fino de carbono.
B) Recobrimento da amostra com um filme fino de platina.
C) Recobrimento da amostra com um filme fino de crômio.
D) Recobrimento da amostra com um filme fino de prata.
E) Recobrimento da amostra com um filme fino de ouro.
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40. Para analisar por microscopia eletrônica de varredura (MEV) uma seção transversal de uma amostra
biológica de alta razão de aspecto, como um fio de cabelo, qual dos conjuntos de procedimentos abaixo é
o recomendado?
A) Polimento gradual em lixas, moagem e corte por microtomia.
B) Dispersão em líquido polar, gotejamento e recobrimento com ouro.
C) Secagem em fluido supercrítico, polimento químico e recobrimento com ouro.
D) Embutimento em matriz polimérica, corte por microtomia e recobrimento com ouro.
E) Polimento químico, embutimento em matriz polimérica e secagem gradual a vácuo.
41. Na microscopia eletrônica de transmissão (MET), o aumento da energia dos elétrons deve-se ao aumento
do potencial elétrico sob o qual os elétrons são submetidos no sistema de iluminação. Elétrons com maior
energia podem ser transmitidos por amostras mais espessas devido:
A) À diminuição do diâmetro do feixe de elétrons.
B) Ao aumento do livre caminho médio dos elétrons.
C) Ao aumento do comprimento de onda do elétron.
D) À possibilidade de aumento da distância focal da lente objetiva.
E) À possibilidade de diminuição da distância focal da lente objetiva.
42. Por que a análise de amostras magnéticas no microscópio eletrônico de transmissão deve ser feita com
certo cuidado?
A) A análise de monólitos magnéticos pode resultar no desvio do feixe de elétrons, o qual pode entrar em
contato com regiões não protegidas da coluna ótica, resultando em prejuízo à máquina.
B) Caso a amostra seja composta de pequenas partículas magnéticas, o campo magnético da peça polar
do microscópio pode atrair as partículas e a eficiência das lentes pode ser prejudicada.
C) O campo magnético estabelecido na lente objetiva pode levar à polarização permanente dos domínios
magnéticos presentes em partículas (amostra) do tipo superparamagnéticas, modificando portanto sua
morfologia.
D) Partículas magnéticas com grandes tamanhos podem geram campos magnéticos que se alinham ao
longo da coluna ótica, prejudicando o funcionamento das lentes magnéticas dispostas ao longo do
microscópio.
E) O dipolo magnético permanente estabelecido na peça polar, dentro da qual a amostra é inserida, leva à
oscilação de partículas magnéticas (amostra) com características superparamagnéticas, resultando no
espalhamento do feixe.
43. Considerando-se o interesse em se analisar amostras biológicas de células e bactérias, qual das
sequências de procedimentos apresentados é a mais adequada para que essas amostras sejam preservadas
para análise de microscopia eletrônica de varredura?
A) Desidratação, tingimento, corte, embutimento e imobilização.
B) Desidratação, imobilização, tingimento, corte e decomposição.
C) Embutimento, desidratação, corte, decomposição e metalização.
D) Desidratação, imobilização, embutimento, corte e metalização.
E) Oxidação, metalização, embutimento, imobilização e gotejamento.
44. Além dos raios-X característicos emitidos pelos elementos químicos presentes na amostra os quais estão
diretamente relacionados com o número atômico do elemento durante a interação do feixe de elétrons
com amostra há também a emissão de raios-X de fundo (bremsstrahlung) devido:
A) Ao espalhamento dos elétrons do feixe incidente pelos átomos da amostra.
B) À transferência de momento dos elétrons do feixe incidente para os átomos da amostra.
C) Ao amortecimento dos elétrons do feixe incidente pelas nuvens eletrônicas dos átomos da amostra.
D) À repulsão eletrostática existente entre os elétrons do feixe incidente e os elétrons dos átomos da
amostra.
E) Às transições eletrônicas internas nos átomos da amostra após interação com os elétrons do feixe
incidente.
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45. Na espectroscopia de energia dispersiva por raios-X (EDS), certas mudanças nos parâmetros do
microscópio eletrônico de varredura (MEV) podem levar a um aumento de sensibilidade da técnica.
Assinale a alternativa que descreve duas alterações que podem levar a um ganho de sinal no detector de
EDS.
A) Diminuição da distância de trabalho e aumento do diâmetro do feixe de elétrons.
B) Aumento da aceleração dos elétrons e diminuição do diâmetro do feixe de elétrons.
C) Diminuição do diâmetro do feixe de elétrons e aumento da distância de trabalho.
D) Diminuição do diâmetro da abertura e aumento da aceleração dos elétrons.
E) Aumento do diâmetro da abertura e diminuição da distância de trabalho.
46. O cálculo preciso do valor médio de tamanho de partículas não esféricas analisadas em um microscópio
eletrônico pode ser encontrado:
A) Subtraindo-se da soma dos valores de tamanho máximo de cada partícula o número de partículas.
B) Multiplicando-se os valores de tamanho máximo de cada partícula e subtraindo-se o número de
partículas.
C) Somando-se os valores de tamanho máximo de cada partícula e dividindo-se pelo número de
partículas.
D) Somando-se o número de partículas e dividindo-se pela soma dos valores de tamanho máximo de
cada partícula.
E) Multiplicando-se o tamanho máximo de cada partícula pela soma dos valores de tamanho máximo de
cada partícula.
47. Alguns aspectos elementares do processo de interação elétron-matéria e outros intrínsecos ao
funcionamento do microscópio eletrônico de varredura (MEV) limitam o uso dessa técnica para
determinação de tamanho de nanoestruturas. Portanto, as medidas de tamanho nas imagens obtidas por
MEV podem carecer de precisão quando as imagens foram tomadas em grandes magnificações. Essa
falta de precisão está relacionada com o fato:
A) de o contraste obtido na imagem estar relacionado à detecção de elétrons emitidos por uma área da
amostra, e não um ponto, sendo essa área dependente da energia do feixe incidente.
B) dos detectores usados no microscópio eletrônico de varredura estarem posicionados sempre acima da
amostra analisada, refletindo na perda de parte do sinal manifestado após interação do feixe de
elétrons com a amostra.
C) da aceleração do feixe de elétrons no MEV ser limitada em função do comprimento da coluna ótica, o
qual impede que o equipamento atinja o nível de convergência de feixe obtido em um microscópio
eletrônico de transmissão (MET).
D) do valor do livre caminho médio dos elétrons ser maior que a distância de trabalho, que define a
distância da amostra em relação à peça polar do microscópio, a qual é responsável pelo controle da
varredura do feixe sobre a amostra.
E) de os elétrons emitidos na área de varredura do feixe possuírem energias diferentes (espalhamento em
energia), e esses elétrons não podem ser resolvidos (filtrados) em função de sua energia cinética
devido ao comprimento da coluna ótica do MEV.
48. Quando se pretende fazer um mapeamento elementar por EDS (espectroscopia de energia dispersiva por
raios-X) de grandes áreas de uma amostra, pode-se fazer uso do recurso de varredura automatizada, a
qual posiciona o feixe de elétrons do microscópio eletrônico de varredura (MEV) automaticamente ao
longo de toda a área desejada. Nesse modo, o microscópio pode adquirir milhares de imagens que
posteriormente podem ser combinadas para gerar o mapeamento completo de toda a área solicitada. Esse
tipo de experimento só pode ser feito para amostras com superfícies planas, pois:
A) podem ser focadas adequadamente ao longo de toda a área de interesse.
B) possuem maior taxa de geração de elétrons secundários ao longo da área de interesse.
C) possuem maior taxa de geração de elétrons retroespalhados ao longo da área de interesse.
D) possuem maior taxa de geração de raios-X após interação do feixe de elétrons ao longo da área de
interesse.
E) podem sofrer interação com o feixe de elétrons incidente em diferentes energias ao longo da área de
interesse.
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49. Apesar da imagem gerada no microscópio eletrônico de transmissão ser uma projeção bidimensional da
amostra analisada, há a possibilidade de se avaliar a morfologia tridimensional da amostra. Essa
avaliação pode ser feita através da:
A) rotação da amostra.
B) fluorescência da amostra.
C) mudança de foco da imagem.
D) energia dispersada pelo feixe.
E) difração de elétrons pela amostra.
50. Na microscopia eletrônica de transmissão, o padrão de difração gerado no equipamento e registrado pela
câmara CCD (charge-coupled device), ou no filme fotográfico, tem equivalência a um tipo de tratamento
matemático feito na imagem obtida no plano da amostra. Essa transformação matemática é obtida através da:
A) Transformada de Galileu.
B) Transformada de Cauchy.
C) Transformada de Hilbert.
D) Transformada de Fourier.
E) Transformada de Perron-Frobenius.
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